otsukael 多分析物納米顆粒尺寸測量系統(tǒng) nanoSAQLA

時間：2024/7/26閱讀：341

多分析物納米顆粒尺寸測量系統(tǒng) nanoSAQLA

nanoSAQLA是采用動態(tài)光散射法（DLS法）的粒徑測量裝置（粒徑0.6nm至10μm）。

配備進一步追求質量控制需求的各種功能。

一種新的光學系統(tǒng)，支持從稀釋系統(tǒng)到濃縮系統(tǒng)的寬濃度范圍內的多分析物測量，實驗室的輕量化和緊湊設計，以及標準的 1 分鐘高速測量。

此外，這款新產品是非浸入式的，不受污染影響，標配“5個樣品連續(xù)測量"，無需自動進樣器。

特征：

用一臺

　設備輕松連續(xù)測量 5 個樣品實現(xiàn)了多個樣品的連續(xù)測量，這在沒有自動進樣器的情況下是困難的

　也可以通過改變每個樣品的條件進行測量。

與稀釋到濃縮系統(tǒng)兼容

標準測量時間：1分鐘高速測量

　針對濃樣品和稀樣品自動調整最佳測量位置，實現(xiàn)約1分鐘高速測量

配備簡易測量功能（一鍵開始測量）

　軟件簡單易懂，無需復雜操作

內置非浸入式池塊，消除污染，無需分液。每個

　池都是獨立的，無需擔心污染。

配備溫度梯度功能

　，方便溫度設定

測量范圍（理論值）：

粒徑0.6nm～10μm

濃度范圍0.00001~40%

溫度范圍0~90℃*

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