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怎樣測試多種導(dǎo)電材料介質(zhì)(電阻)的阻值隨溫度的變化值

時間:2024/3/15閱讀:189
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高阻測定儀_高阻儀

型號:VXMGZ-I

該儀器采電子、數(shù)控方法,用于測試多種導(dǎo)電材料介質(zhì)(電阻)的阻值隨溫度變化的值,通過繪制電阻,溫度由線,可定性分析電阻溫度變化率。其主要適用于大專院校電子材料實(shí)驗(yàn)室等的研究和教學(xué)演示用。

技術(shù)指標(biāo):

試樣大小可對¢40以上或10×10×10mm的PTC樣品進(jìn)行R-T特性試驗(yàn);

溫度范圍:室溫-300℃

控溫精度:±1℃;

電阻范圍:0.01Ω-10^15Ω

加熱功率:0-300W可調(diào)

環(huán)境溫度:0-40℃

環(huán)境濕度:≤85%

工作電源:220V 50Hz

機(jī)實(shí)現(xiàn)全自動PTD調(diào)節(jié),曲線CRT顯示,數(shù)據(jù)存儲或打印。


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