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當(dāng)前位置:上海首立智慧科技有限公司>>HORIBA(過程&環(huán)境)>> DIGILEM-CPM-Xe/Halogen實時膜厚檢測儀
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產(chǎn)品型號DIGILEM-CPM-Xe/Halogen
品 牌
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地
更新時間:2023-07-27 13:09:14瀏覽次數(shù):561次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)實時的干涉測量設(shè)備,提供蝕刻/鍍膜制程中高精度的膜厚及蝕刻溝深度檢測。單色光打在樣品表面,由于膜厚和高度變化導(dǎo)致不同的光路長度時,使用干涉測量法。通過循環(huán),系統(tǒng)能在監(jiān)控區(qū)使用實時監(jiān)測的方法計算蝕刻和鍍膜的速度,在規(guī)定的膜厚和槽深來進(jìn)行終點檢測。基于這個相對簡單的理論,系統(tǒng)不但非常穩(wěn)定,并且可用于復(fù)雜的多層薄膜。
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