• 系統(tǒng)結(jié)合后保留原有AFM之功能 • 可結(jié)合之光譜包含拉曼、紅外光、太赫茲光、熒光與時間解析熒光光譜

• 可建立正立或倒立以及同時正倒立顯微鏡 • 雷射照射方式: 穿透、反射以及側(cè)向激發(fā) • 可同時進(jìn)行多點(diǎn)探針掃描

系統(tǒng)架設(shè)：

使用側(cè)面照明的多探頭無孔成像（NSOM＆THz＆IR）

分析應(yīng)用：

AFM-NSOM-IR-Raman Performance

AFM-IR mapping of low K films

無錫浩輝者新材料科技有限公司依靠多年材料特性研究的經(jīng)驗(yàn)及對檢測設(shè)備及技術(shù)的研發(fā)與應(yīng)用，為客戶提供材料檢測分析儀器及方法。讓客戶深入了解全面的分析技術(shù)，以及其性能限制，為客戶的分析需求選擇適合的分析儀器。與此同時，我們會幫助輔導(dǎo)客戶完成整個分析過程，得到客戶所需要的答案及結(jié)果。也可依顧客需求，提供完整專業(yè)的系統(tǒng)解決方案。