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晶圓片表面檢測燈半導體表面瑕疵檢查燈 表面檢查燈廠家 黃綠光/白光檢查燈
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈185LE-AL系列是一款黃綠光表面檢查燈（或者是白光），又叫半導體目檢燈，檢測燈的原理利用適合的LED燈源，通過光學鏡片折射出特殊波長的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作員肉眼可識別出工件表面的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵點，取代傳統(tǒng)的照明設(shè)備和光學系統(tǒng)機臺，直接通過照明光線和肉眼，觀測出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵，極大的節(jié)省了一般工廠的采購成本。 PS-PH40，YP-250I表面檢查燈采用人眼敏感510-590NM之間波長光，來做簡單與明確的判別，可檢查到1um以下的刮痕或微粒子，并且具有綠光和黃光2種顏色的復合光，幾乎可檢測出塵埃，大大降低產(chǎn)品不良率。使用壽命為2萬小時以上。光源強度可達30萬LX，可以檢測1μ的表面臟污，比傳統(tǒng)的表面檢查燈，效用增強10倍PSVLX1-F5016半導體目檢燈可根據(jù)使用場景，使用便攜手持式或桌面式（上在底座上即可）。
由于沒有閃爍并且沒有眼睛疲勞，所以電子照明方法提高了可加工性。可以自由地進行調(diào)光，并可以選擇佳條件。通過采用柔性臂，可以自由調(diào)節(jié)光源的角度?？梢栽跓o塵室中使用。可以使用安裝支架分離光源。連續(xù)照明時，燈泡壽命為10,000小時。它可以切割500 nm或更短的波長，并且該波長不會給人眼造成負擔，因此使其成為視覺檢查光源的佳波長。
半導體晶片不管是自主加工生產(chǎn)還是外購，都要對其外表進行缺陷瑕疵檢查，避免瑕疵品在投入使用，從而導致成品成為不合格產(chǎn)品。上海峰志儀器有限公司用于半導體晶片表面缺陷瑕疵檢查燈以及測試系統(tǒng)主要技術(shù)指標如下：
1、測試精度：可檢測出1um以下的缺陷瑕疵
2、光源：人眼易于察覺的綠光和黃光2種顏色的復合光
3、檢查系統(tǒng)帶工業(yè)相機，可拍攝瑕疵點
4、樣式靈活，可手持式和桌面放置解放雙手
5、可調(diào)節(jié)燈光照射范圍
