冷熱沖擊試驗(yàn)箱獨(dú)立控制 返回列表頁(yè)

冷熱沖擊試驗(yàn)箱獨(dú)立控制技術(shù)參數(shù)

溫度范圍

高溫區(qū)：60℃至+150℃。

低溫區(qū)：-10℃至-60℃。

溫度波動(dòng)與恢復(fù)

1. 波動(dòng)度：±0.5℃至±2.0℃。

2. 恢復(fù)時(shí)間：5分鐘內(nèi)完成。

3. 轉(zhuǎn)換時(shí)間：風(fēng)門切換≤10秒（部分型號(hào)≤8秒）。

結(jié)構(gòu)與性能

1. 結(jié)構(gòu)：分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，采用蓄熱/蓄冷結(jié)構(gòu)及強(qiáng)制風(fēng)路切換。

2. 樣品承載：?jiǎn)蝹€(gè)樣品架負(fù)載≤30kg，部分型號(hào)支持20kg。

3. 制冷方式：風(fēng)冷或水冷復(fù)疊制冷，壓縮機(jī)多為法國(guó)泰康或比澤爾品牌。

電氣與控制

1. 電源：AC380V 3相5線制，頻率50Hz±5%。

2. 控制器：TEMP8226S或TN1300系列，支持PID控制、模糊算法及曲線記錄。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱獨(dú)立控制滿足標(biāo)準(zhǔn)

1. 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

• IEC：IEC68-2-14（溫度變化試驗(yàn)）、IEC60068-2-14（溫度沖擊試驗(yàn)）。

• MIL-STD：MIL-STD-883E、MIL-STD-202F（溫度循環(huán)試驗(yàn)）。

• JIS：JIS C 0025（電子零部件測(cè)試）。

2. 國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T：GB/T2423.1-2008（低溫試驗(yàn)）、GB/T2423.2-2008（高溫試驗(yàn)）、GB/T2423.22-2012（溫度變化試驗(yàn)）。

• GJB：GJB150.5A-2009（溫度沖擊試驗(yàn)）、GJB360B-2009（環(huán)境試驗(yàn)）。

3. 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

• 汽車/航空：QC/T17-92（汽車零部件耐候性試驗(yàn)）、GJB150.3-86（設(shè)備試驗(yàn)）。

• 電子/半導(dǎo)體：EIA364-32（電連接器環(huán)境測(cè)試）、IPC-2.6.7（PCB可靠性測(cè)試）。

應(yīng)用領(lǐng)域

1. 工業(yè)領(lǐng)域

• 電子與半導(dǎo)體：驗(yàn)證電子元器件、IC芯片、BGA封裝的耐溫性能。

• 汽車電子：測(cè)試汽車零部件（如傳感器、控制器）在溫度下的可靠性。

2. 材料與制造

• 金屬與塑料：評(píng)估材料在冷熱交替環(huán)境下的物理性能變化。

• 化工與高分子材料：檢測(cè)化學(xué)物質(zhì)在溫度沖擊下的穩(wěn)定性。

  
  

3. 其他領(lǐng)域

• 通信設(shè)備：驗(yàn)證通信模塊在高溫低溫切換中的信號(hào)穩(wěn)定性。

• 醫(yī)療設(shè)備：測(cè)試在運(yùn)輸或儲(chǔ)存過(guò)程中的耐溫性能。

注意事項(xiàng)

• 參數(shù)差異：不同型號(hào)的試驗(yàn)箱參數(shù)可能因設(shè)計(jì)需求而異，具體需參考產(chǎn)品規(guī)格書。

• 安全限制：禁止測(cè)試易燃、易爆、腐蝕性物質(zhì)或生物樣本。