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[供應(yīng)]TEM-APT Holder電鏡連用三維原子探針樣品桿2
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  • TEM-APT Holder電鏡連用三維原子探針樣品桿2
更新時間:
2025-01-03 21:00:07
有效期:
2025年1月3日 -- 2025年7月3日
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產(chǎn)品簡介

TEM-APTHolder電鏡連用三維原子探針樣品桿TEM-APTHolder電鏡連用三維原子探針樣品桿可與原子探針、透射電鏡配套使用,有效地使原子探針和透射電鏡檢測結(jié)合在一起,使樣品的觀察和分析更加方便

詳細(xì)介紹

 

TEM-APT  Holder 電鏡連用三維原子探針樣品桿

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TEM-APT  Holder 電鏡連用三維原子探針樣品桿可與原子探針、透射電鏡配套使用, 有效地使原子 探針和透射電鏡檢測結(jié)合在一起, 使樣品的觀察和分析更加方便。 TEM-APT  Holder 電鏡連用三維 原子探針樣品桿用來夾持透射電鏡樣品放到透射電鏡下進(jìn)行觀察, 可以 360°旋轉(zhuǎn)樣品, 透射電鏡 配套的樣品桿往往功能單一, 這款樣品桿可以滿足客戶的多種的需要, 適合大專院校及科研院所 中與透射電鏡配套使用。進(jìn)口樣品桿往往價格不菲, 本公司的樣品桿不僅功能齊全且結(jié)實耐用, 價格也遠(yuǎn)低于進(jìn)口設(shè)備的價格。

 

產(chǎn)品型號

TEM-APT Holder 電鏡連用三維原子探針樣品桿

主要特點(diǎn)

1 、TEM-APT 樣品桿:三維原子探針(3DAP)和透射電鏡(TEM)是先 進(jìn)的原子尺度表征手段。

2、三維原子探針的結(jié)果不是“可視”的,需要通過數(shù)據(jù)重構(gòu)再現(xiàn)。透射電鏡能 提供“直接可視”的實驗結(jié)果,但是結(jié)果是二維投影的,并且很難獲得三維的  單個原子尺度的成分信息。基于它們各自的優(yōu)勢,我們開發(fā)了 3DAP-TEM 樣品  桿,可以將原子探針(APT)試樣直接加載到 TEM 樣品桿上。

產(chǎn)品結(jié)構(gòu)

img2

 

 

產(chǎn)品作用

(1)在 TEM 中直接觀察 APT 試樣上是否有令人感興趣的區(qū)域,使樣品檢測工作效率增加;

(2)通過大角度傾轉(zhuǎn)試樣,獲得不同角度試樣的形貌結(jié)構(gòu)特征,為 3DAP 數(shù)據(jù)重構(gòu)提供幫助

(3) TEM 觀察過后的試樣可以直接移到 APT 中繼續(xù)實驗。將 APT 結(jié)果與 TEM 圖像相結(jié)合,有助于優(yōu)化重構(gòu)參數(shù),并使 3DAP 結(jié)果更具有可信度。

(4)在原子水平上獲得了樣品的組成和結(jié)構(gòu)。

 

img3

 

 

 

產(chǎn)品性能

(1)接受錐形電化學(xué)拋光的樣品或聚焦離子束(FIB)制備的樣品柱。

(2)允許 360°的圖像采集和層析圖像的重建,不會因楔子缺失而造成信息損失。

(3)樣品可以很容易地從支架上取出,然后直接轉(zhuǎn)移到 APT 機(jī)上進(jìn)行進(jìn)一步表征。

(4)兼容所有幾何形狀的極片間隙。

 

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