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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 | 方阻 | ±0.15Ω |
|---|
可測(cè)量范圍與量程：被測(cè)薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%
測(cè)量量程 厚度90～800Å（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□
精que度： 測(cè)量準(zhǔn)確度 厚度 ±(20Å+2%讀數(shù))
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
鋁膜測(cè)厚儀型號(hào)：BN/DT-LM
鋁膜測(cè)厚儀
可測(cè)量范圍與量程：被測(cè)薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%
測(cè)量量程 厚度90～800?（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□
精que度： 測(cè)量準(zhǔn)確度 厚度 ±(20?+2%讀數(shù))
方阻 ±0.15Ω/□（在300～500?范圍）
讀數(shù)重現(xiàn)性 10? (同一測(cè)量點(diǎn)) 注：1微米＝1000納米＝10000埃
可測(cè)量范圍與量程：被測(cè)薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%
測(cè)量量程 厚度90～800?（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□
精que度： 測(cè)量準(zhǔn)確度 厚度 ±(20?+2%讀數(shù))
方阻 ±0.15Ω/□（在300～500?范圍）
讀數(shù)重現(xiàn)性 10? (同一測(cè)量點(diǎn)) 注：1微米＝1000納米＝10000埃
可測(cè)量范圍與量程：被測(cè)薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%
測(cè)量量程 厚度90～800?（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□
精que度： 測(cè)量準(zhǔn)確度 厚度 ±(20?+2%讀數(shù))
方阻 ±0.15Ω/□（在300～500?范圍）
讀數(shù)重現(xiàn)性 10? (同一測(cè)量點(diǎn)) 注：1微米＝1000納米＝10000埃
