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鋁膜測厚儀

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參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號 BN/DT-LM
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 所在地 北京市
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更新時間:2024-09-19 15:40:30瀏覽次數(shù):125

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產(chǎn)品簡介

應(yīng)用領(lǐng)域 綜合 方阻 ±0.15Ω
鋁膜測厚儀型號:BN/DT-LM

可測量范圍與量程:被測薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%

測量量程 厚度90~800Å(0.009~0.08μm) 方阻95~0.47Ω/□

精que度: 測量準確度 厚度 ±(20Å+2%讀數(shù))

詳細介紹

鋁膜測厚儀型號:BN/DT-LM

鋁膜測厚儀

可測量范圍與量程:被測薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%

測量量程 厚度90~800?(0.009~0.08μm) 方阻95~0.47Ω/□

精que度: 測量準確度 厚度 ±(20?+2%讀數(shù))

方阻 ±0.15Ω/□(在300~500?范圍)

讀數(shù)重現(xiàn)性 10? (同一測量點) 注:1微米=1000納米=10000埃

可測量范圍與量程:被測薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%

測量量程 厚度90~800?(0.009~0.08μm) 方阻95~0.47Ω/□

精que度: 測量準確度 厚度 ±(20?+2%讀數(shù))

方阻 ±0.15Ω/□(在300~500?范圍)

讀數(shù)重現(xiàn)性 10? (同一測量點) 注:1微米=1000納米=10000埃

可測量范圍與量程:被測薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%

測量量程 厚度90~800?(0.009~0.08μm) 方阻95~0.47Ω/□

精que度: 測量準確度 厚度 ±(20?+2%讀數(shù))

方阻 ±0.15Ω/□(在300~500?范圍)

讀數(shù)重現(xiàn)性 10? (同一測量點) 注:1微米=1000納米=10000埃


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