高光譜成像技術(shù)對(duì)甘薯損傷檢測(cè)與分析

基于高光譜成像技術(shù)的甘薯損傷檢測(cè)與分析

   甘薯是世界上一種重要的作物，在我國的甘薯種植面積與產(chǎn)量均為世界超前。甘薯富含淀粉、多種維生素、膳食纖維、蛋白質(zhì)以及鈣、磷、鐵等無機(jī)鹽，具有延緩人體衰老等。然而甘薯的損傷問題是困擾著種植者與加工者的重要問題。甘薯的損傷主要包括病害等，具有損傷的甘薯會(huì)逐漸氧化腐爛，且會(huì)逐漸感染其他健康甘薯，造成嚴(yán)重的經(jīng)濟(jì)損失。利用高光譜成像技術(shù)將有缺陷的甘薯從健康甘薯中區(qū)分出來，可以預(yù)防甘薯之間的交叉感染，提高甘薯品質(zhì)。

                                                                                                             圖1 甘薯樣本圖

                                                                                                    圖2 采集流程

                                                   圖3 甘薯的光譜曲線（原始光譜、SNV預(yù)處理后的光譜與平均光譜）

分別采用MC-UVE、RF和SPA方法提取特征波長，如圖4所示?；谶@三種方法提取出的特征波長分別建立PLS-DA和LDA模型，均取得了較好的分類結(jié)果。

其中RF-PLS-DA模型表現(xiàn)*好，總的判別準(zhǔn)確率高達(dá)92.86%，健康、凍死、病害三類分別的判別準(zhǔn)確率為97.14%，94.29%和87.14%。LDA分類模型的預(yù)測(cè)結(jié)果，

以三維散點(diǎn)圖的形式呈現(xiàn)在圖5中。

                                                                                                                              圖4 提取特征波長

                                                                         圖5 LDA模型的三維散點(diǎn)圖（MCUVE-LDA模型，RF-LDA模型和SPA-LDA模型）

                             結(jié)果表明：利用高光譜成像技術(shù)可以鑒別健康甘薯和病害甘薯，為甘薯的存儲(chǔ)與加工提供了理論依據(jù)，為提升甘薯產(chǎn)業(yè)的經(jīng)濟(jì)效益提供幫助。