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當(dāng)前位置:深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>外觀(guān)分析設(shè)備>>測(cè)量裝置>> MEMSMap 510日本syscom振動(dòng)/位移分析裝置激光測(cè)量?jī)x

日本syscom振動(dòng)/位移分析裝置激光測(cè)量?jī)x

參   考   價(jià): 23000

訂  貨  量: ≥100 臺(tái)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)MEMSMap 510

品       牌其他品牌

廠(chǎng)商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商

所  在  地深圳市

更新時(shí)間:2024-10-08 14:45:00瀏覽次數(shù):205次

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日本syscom振動(dòng)/位移分析裝置激光測(cè)量?jī)x MEMSMap 510

兼容高達(dá) 240MHz 的高頻
可實(shí)時(shí)確認(rèn),包括相位信息 可
從 1 nm 開(kāi)始測(cè)量

日本syscom振動(dòng)/位移分析裝置激光測(cè)量?jī)x MEMSMap 510 特點(diǎn)介紹


Memsmap 510使用CCD相機(jī)和顯微鏡鏡頭對(duì)微小物體(0.1毫米或以上)進(jìn)行振動(dòng)位移分析。

將激光照射到待測(cè)物體上,物體反射的激光與內(nèi)部參考激光之間會(huì)產(chǎn)生干涉條紋。使用高精度顯微鏡鏡頭和 CCD 相機(jī)通過(guò)圖像處理板將這些干涉條紋作為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)捕獲到 PC 中。MEMSMAP可以使用兩種不同的方法來(lái)測(cè)量被測(cè)物體的振動(dòng)和變形:實(shí)時(shí)模式和相位調(diào)制方法。

在實(shí)時(shí)模式下,振動(dòng)和變形以重疊的條紋圖案(輪廓圖)顯示在物體圖像上。通過(guò)掃頻,可以輕松觀(guān)察共振點(diǎn)處的振動(dòng)模式。此外,通過(guò)使用相位調(diào)制方法,可以以動(dòng)畫(huà)或3D繪圖的形式顯示振動(dòng)模式和位移模式,從而可以進(jìn)行出色的定量和定性振動(dòng)和位移分析。

下圖顯示了尺寸為 3 x 3 mm 的硅膠膜在氣壓作用下變形時(shí)的位移模式。通過(guò)將條紋圖案實(shí)時(shí)重疊在測(cè)量對(duì)象上來(lái)顯示位移量,可以輕松確認(rèn)位移分析。

通過(guò)使用相位調(diào)制,測(cè)量靈敏度可提高至大約 1 nm。


日本syscom振動(dòng)/位移分析裝置激光測(cè)量?jī)x MEMSMap 510 規(guī)格參數(shù)


下面的動(dòng)畫(huà)是 14.3MHz 超聲波組件和 37MHz 石英晶體振動(dòng)模式 3D 繪圖示例。

該 3D 圖還包含實(shí)際振動(dòng)狀態(tài)的相位信息,通過(guò)將相位信息從 0 更改為 2π,您可以在動(dòng)畫(huà)中檢查對(duì)象的振動(dòng)狀態(tài)。

當(dāng)在振動(dòng)測(cè)量中使用相位調(diào)制方法時(shí),Micromap還控制被測(cè)物體的激勵(lì)頻率,可以測(cè)量約1納米的振動(dòng)幅度和高達(dá)數(shù)百兆赫茲的頻率范圍。




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