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當(dāng)前位置:深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>外觀分析設(shè)備>>測(cè)量裝置>> HERA FT1230日本ceramic forum半導(dǎo)體分析裝置測(cè)量結(jié)晶
產(chǎn)品型號(hào)HERA FT1230
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時(shí)間:2024-10-11 12:24:37瀏覽次數(shù):288次
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子,電氣,綜合 |
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日本ceramic forum半導(dǎo)體分析裝置測(cè)量結(jié)晶 HERA FT1230 特點(diǎn)介紹
DLTS方法是一款高感度測(cè)量結(jié)晶缺陷導(dǎo)致的電子狀態(tài)的良好方法。
即便是內(nèi)在微小的雜質(zhì)或格子缺陷也會(huì)很大程度上影響半導(dǎo)體材料性能,所以此類測(cè)量非常重要。
DLTS方法是一種通過將深準(zhǔn)位捕獲的carrier(比如電子)釋放于Band帶上后,顯示其與試料結(jié)合容量的過度變化的一種手法,
從而可以得知深準(zhǔn)位的參數(shù)(能量級(jí)別、捕獲斷面積)、濃度值、空間分布等信息。
日本ceramic forum半導(dǎo)體分析裝置測(cè)量結(jié)晶 HERA FT1230 規(guī)格參數(shù)
HERA-DLTS
基本DLTS測(cè)量
數(shù)碼DLTS測(cè)量
Laplace DLTS測(cè)量 包含以上3中模式
可測(cè)量范圍
C/V, I/V, C(t) 測(cè)量
C/V, I/V, 特性實(shí)施
參雜濃度
勢(shì)壘高度Barrier height
肖特基的理想系數(shù)
氧化膜厚度計(jì)算
DLTS測(cè)量可選項(xiàng)
傅里葉(Fourier)轉(zhuǎn)換
Laplace轉(zhuǎn)換
多指數(shù)函數(shù)過度FIT
ITS(等溫過度頻譜)信號(hào)再折疊
Tempscan信號(hào)再折疊
發(fā)源于德國Kassel工科大學(xué)的DLTS測(cè)量裝置專業(yè)廠家。成功開發(fā)出目前在流通的DLTS系統(tǒng)中一款數(shù)碼對(duì)應(yīng)設(shè)備,同時(shí)也是世界普及DLTS系統(tǒng)DL-8000的研發(fā)廠家(經(jīng)銷商BIO-RAD)。2016年推出的FT-1230與其他競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手的產(chǎn)品相比,擁有更多的測(cè)量模式,可對(duì)應(yīng)任何材料及研發(fā)人員的需求,屬于一款的擴(kuò)展性好的系統(tǒng)。
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