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日本oji-keisoku分子取向儀無損測量高精度
  • 日本oji-keisoku分子取向儀無損測量高精度
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貨物所在地:廣東深圳市

更新時間:2024-12-18 21:00:07

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日本oji-keisoku分子取向儀無損測量高精度 MOA-8000系列

■特點
1. 非接觸式、無損測量
2. 可測量透明和不透明材料
3. 全自動、高精度
4. 可測量復介電常數(shù)(介電常數(shù)、介質(zhì)損耗因數(shù))

日本oji-keisoku分子取向儀無損測量高精度 MOA-8000系列 特點介紹


■特點

1. 非接觸式、無損測量

2. 可測量透明和不透明材料

3. 全自動、高精度

4. 可測量復介電常數(shù)(介電常數(shù)、介質(zhì)損耗因數(shù))


日本oji-keisoku分子取向儀無損測量高精度 MOA-8000系列 規(guī)格參數(shù)


■測量對象

1. 薄膜、片材

2. 紙、無紡布、預浸料

3. 泡沫片材

4. 陶瓷

5. 橡膠片材

6. 纖維增強復合材料

7. 液晶聚合物(LCP)



■用途

1. 拉伸薄膜的各向異性測量(彎曲現(xiàn)象分析)

2. 液晶聚合物的取向評價

3. 電子相關材料的復合介電常數(shù)測量等  ■


產(chǎn)品陣容

< MOA-8004 >

◆測量頻段... 4GHz

◆ 測量面積...Φ65mm

◆樣品尺寸...□95mm <t3mm

◆測量項目

取向圖案測量:取向角、MOR、MOR_C、ε'、⊿n

介電常數(shù)圖案測量:取向角、ε'、ε"

共振曲線測量:共振曲線、Q值


< MOA-8015 >

◆測量頻段... 12GHz / 15GHz / 17GHz

◆測量面積... Φ18mm

◆樣品尺寸... □35mm <t1.5mm

◆測量項目

方向圖測量:取向角、MOR、MOR_C、ε'、⊿n

介電常數(shù)圖案測量:取向角、ε'、ε"

共振曲線測量:共振曲線、Q 值


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