解析SEISHIN株式會社顯微細顆粒硬度計MHT-1

解析SEISHIN株式會社顯微細顆粒硬度計MHT-1

解析SEISHIN株式會社顯微細顆粒硬度計MHT-1

產(chǎn)品產(chǎn)品信息

顯微硬度計MHT-1(顆粒壓縮試驗裝置)

微型硬度計MHT-1通過更換測量臺可以測量40至400μm。*這是一臺用于細顆粒的自動壓縮試驗裝置。該裝置通過壓頭施加載荷來壓碎顆粒時測量峰值載荷和粒徑，并計算壓碎強度。使用圖像數(shù)據(jù)和載荷-位移曲線記錄從壓縮到失效的過程。通過從測量結(jié)果中選擇任意粒子，可以在載荷-位移曲線和連續(xù)圖像中確認斷裂過程。

*根據(jù)規(guī)格，目標粒度將為 40-120μm 或 50-400μm。

　為了測量 200 至 1500 μm 之間的顆粒，我們有 Better 硬度計 BHT-1000（全自動粉末和顆粒壓縮試驗裝置） 。

測量流程

利用我們的技術(shù)，我們分散并采樣每一個粒子。要測量，只需插入樣品，壓縮測試和清潔將自動重復(fù)。

圖像分析

使用圖像分析，重疊的顆粒和團聚體被排除在測量之外，并且在進行壓縮試驗之前，顆粒被自動識別為單個顆粒。

規(guī)格

規(guī)格MHT-1MHT-1W（高分辨率）

測量方法恒荷載法 

測量項目高度、粒度、峰值荷載、位移、抗壓強度、斷裂強度、變形強度 

目標粒徑50 至 400 μm

（手動測量為 1 mm）

*需要更換平臺 40至120μm 

下降速度從 1.0 至 10μm/秒選擇 從 0.01 至 10μm/秒選擇 

測量的顆粒數(shù)量每個樣本最多 500 粒膠囊 

稱重傳感器

試驗力1N（最小顯示0.01mN）

可更改為5N、10N或20N

（可選） 1N（最小顯示0.01mN）

可改為5N

（選配） 

相機CMOS USB 攝像頭：可選

“480 x 270"130,000 像素、“640 x 360"230,000 像素、“960 x 540"520,000 像素或

“1920 x 1080"207 萬像素 

車身尺寸W450×D460×H400 mm ※含突出部分 

重量約25公斤 約26公斤 

公用事業(yè)交流100V 50/60Hz 2A 

其他的壓頭：φ0.45mm直徑直頭（表面處理）

LED燈、防塵罩、校準砝碼 

您可以滾動

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