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Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀高度檢測(cè)即時(shí)檢測(cè) WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非...
Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀安裝簡(jiǎn)易即時(shí)檢測(cè) WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非...
Otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀即時(shí)檢測(cè) WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非破壞性光學(xué)...
Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀省空間即時(shí)檢測(cè) WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非破...
HITACHI日立紫外分光光度計(jì)易操作UH5200不僅配有高分辨率彩色LCD大屏和便捷小鍵盤,還可以通過(guò)USB接口輕松連接外部設(shè)備(讀卡器、鍵盤),實(shí)現(xiàn)樣品信息...
HITACHI日立分光光度計(jì)易操作U-3900/3900H分光光度計(jì)采用Seya-Namioka單色儀,安裝了像差校正凹面光柵。同時(shí)擁有光束的聚焦和色散功能,光...
HITACHI日立紫外分光光度計(jì)易使用UH5700采用連續(xù)可變狹縫,在近紅外波長(zhǎng)區(qū)測(cè)定低光量時(shí),自動(dòng)加寬狹縫;測(cè)定高光量時(shí),自動(dòng)減小狹縫寬度。支持低噪音測(cè)定超大...
HITACHI日立雙光束穩(wěn)定光學(xué)光度計(jì)易使用U-3900/3900H分光光度計(jì)采用Seya-Namioka單色儀,安裝了像差校正凹面光柵。同時(shí)擁有光束的聚焦和色...
HITACHI日立熒光分光光度計(jì)易維護(hù)F-2700熒光分光光度計(jì)在設(shè)計(jì)上充分考慮了用戶的操作體驗(yàn)。操作鍵盤設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔直觀,類似于手機(jī)按鍵,用戶無(wú)需專業(yè)培訓(xùn)即可快速...
HITACHI日立熒光分光光度計(jì)靈敏度高F-7100是在前代機(jī)型F-7000的基礎(chǔ)上更新升級(jí),基本性能得到了進(jìn)一步提升。靈敏度(S/N)是選擇熒光分光光度計(jì)的重...
HITACHI日立分光光度計(jì)易操作采用優(yōu)良的技術(shù)和優(yōu)質(zhì)的材料制造而成,F(xiàn)-2700在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行過(guò)程中能夠保持穩(wěn)定的性能表現(xiàn),減少了因儀器故障而導(dǎo)致的實(shí)驗(yàn)中斷。
HITACHI日立分光光度計(jì)易使用F-7000能夠處理濃度范圍高達(dá)6個(gè)數(shù)量級(jí)的數(shù)據(jù),生成校正曲線,無(wú)需對(duì)未知樣品進(jìn)行任何預(yù)處理即可進(jìn)行定量。此外,增強(qiáng)的時(shí)間掃描...
HITACHI日立熒光分光光度計(jì)易使用F-7100采用全新氙燈,并改良了燈電源,使得光源亮度提升,并有效延長(zhǎng)了氙燈的使用壽命。延長(zhǎng)燈泡更換周期可降低耗材成本,減...
Otsuka大塚 多通道光譜儀配件豐富MCPD-6800是用于分光檢測(cè)與分析的基本系統(tǒng)??梢运查g進(jìn)行分光光譜的測(cè)量,也可以通過(guò)自由組合的光學(xué)系和豐富的配件,搭建...
HITACHI日立熒光分光光度計(jì)高精度傳統(tǒng)熒光光譜儀很難實(shí)現(xiàn)化學(xué)反應(yīng)監(jiān)控,但F-7100超高速的掃描速度可使這種測(cè)量輕松進(jìn)行。在本例中,熒光光譜測(cè)量追蹤2秒時(shí)間...
HITACHI日立熒光分光光度計(jì)高精度F-4700采用了全新的長(zhǎng)壽命氙燈,并通過(guò)改良燈電源,使得光源亮度提升,同時(shí)有效延長(zhǎng)了氙燈的使用壽命至1000小時(shí)。這一改...
Otsuka大塚顯微分光膜厚儀 高精度測(cè)量 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對(duì)焦、測(cè)量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏...
Otsuka大塚顯微分光膜厚儀操作簡(jiǎn)單非接觸 · 非破壞 · 顯微、對(duì)焦、測(cè)量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀,測(cè)...
Otsuka大塚顯微分光膜厚儀高精度 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對(duì)焦、測(cè)量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀,測(cè)...
Otsuka大塚顯微分光膜厚儀 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對(duì)焦、測(cè)量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀,測(cè)試膜厚...
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