涂層測(cè)厚儀操作規(guī)程

來(lái)源：廣州蘭泰儀器有限公司 2016年10月18日 14:55

涂層測(cè)厚儀操作規(guī)

一、技術(shù)參數(shù)

? 采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法。通過(guò)選擇相應(yīng)的測(cè)頭，即可測(cè)量磁

性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋

層的厚度；

? 測(cè)量范圍：（0~1250）μm（F1、N1測(cè)頭），F10測(cè)頭可達(dá)10mm；

? 分辨率：0.1μ（F1、N1測(cè)頭）

? 示值精度：±（3％H+1）μm；H為被測(cè)涂層厚度

? 顯示方法：高對(duì)比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光；

? 存儲(chǔ)容量：可存儲(chǔ)20組（每組zui多50個(gè)測(cè)量數(shù)值）測(cè)量數(shù)據(jù)

? 單位制：公制μm、英制（mil）、可自由轉(zhuǎn)換

? 工作電壓：3V（2節(jié)5號(hào)堿性電池）

? 持續(xù)工作時(shí)間：大于200小時(shí)（不開背光燈）

? 通訊接口：USB1.1，可與PC機(jī)連接、通訊

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