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涂層測(cè)厚儀和膜厚儀之間有什么區(qū)別

來源:珠海天創(chuàng)儀器有限公司   2017年01月13日 10:15  

涂層測(cè)厚儀和膜厚儀之間有什么區(qū)別

涂層測(cè)厚儀和膜厚儀之間有什么區(qū)別?膜厚儀和涂層測(cè)厚儀是同一種產(chǎn)品,叫法不一樣,就好像光澤儀大家會(huì)叫光澤度儀,光澤度計(jì),光澤測(cè)試儀。

膜厚儀一般來說和涂層測(cè)厚儀是一類產(chǎn)品。
膜厚儀一般是測(cè)氧化膜層厚度,常見的鋁基,銅基氧化,測(cè)量時(shí)候用涂層測(cè)厚儀選擇N(非磁性)探頭,這樣測(cè)鋁基等氧化層也稱為膜厚儀。
涂層測(cè)厚儀正常情況下有兩種測(cè)量原理,配F合N探頭,或者FN一體探頭。氧化層一般是幾微米到十幾微米,但是普通的涂層測(cè)厚儀誤差比較大,需要用高精度的涂層測(cè)厚儀測(cè)量氧化層,比如中科樸道的PD-CT2涂層測(cè)厚儀就可以測(cè)量氧化層。
兩者是只是根據(jù)材料有細(xì)微區(qū)別,不過現(xiàn)在使用者很多不了解,也相互稱呼。

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