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HORIBA Scientific（Jobin Yvon光譜技術）----熒光光譜儀器的，提供全套穩(wěn)態(tài)、瞬態(tài)和穩(wěn)-瞬態(tài)以及各種偶聯(lián)技術的解決方案。
借助于成熟的FluoroLog?技術，Nanolog?采用模塊化設計，即可實現(xiàn)穩(wěn)態(tài)測量，也可實現(xiàn)瞬態(tài)測量（TCSPC技術），系統(tǒng)搭配成像光譜儀，可實現(xiàn)紅外三維熒光快速測量。
NanoLog 系列儀器專門用于納米技術和納米材料的前沿研究，NanoLog ?可以檢測到800-1700nm的近紅外范圍，可選~2μm的多通道檢測器和~3μm的單通道檢測器，同時也可實現(xiàn)紫外-可見區(qū)熒光光譜測量。專為單壁碳納米管（SWNTs）設計的NanoSizer?軟件，可計算熒光共振能量傳遞(FRET)和碳管內(nèi)徑分布，并且在微秒時間內(nèi)就能獲得完整的二維光譜圖，1秒內(nèi)獲得的激發(fā)-發(fā)射三維熒光光譜圖。
近紅外熒光光譜儀技術參數(shù)
· 450W的大功率連續(xù)氙燈，涵蓋UV~NIR波長范圍
· 快速獲得全波長范圍激發(fā)-發(fā)射三維熒光圖
· Symphony II InGaAs陣列檢測器：800~1700nm；規(guī)格可選：256×1，512×1和1024×1，單像元25?m；噪音水平：650e-rms （液氮制冷）；可選電制冷；擴展范圍可選（1.1-2.2?m）
· iHR320發(fā)射光譜儀：焦長=320mm；f/4.1；線色散=2.64nm/mm；分辨率=0.06nm；全軟件控制三光柵塔輪（所有測定在光柵刻線數(shù)1200gr/mm條件下）
· 固態(tài)近紅外檢測器，光電倍增管覆蓋UV~NIR全光譜范圍壽命測定，采用時間相關單光子計數(shù)技術測定熒光壽命范圍：100ps~1ms（UV~NIR）；磷光壽命范圍1us~>10s（UV~NIR）
近紅外熒光光譜儀主要特點
· 一秒內(nèi)獲得激發(fā)-發(fā)射三維光譜
· 高靈敏度的近紅外InGaAs陣列檢測器
· 高光譜分辨率
· 易于實現(xiàn)SWNTs的定性和定量分析
· 可選多種檢測器適于紫外至近紅外光譜范圍的檢測需求：
- PMT用于高靈敏度和時間分辨的測量
- InGaAs陣列檢測器用于NIR數(shù)據(jù)的快速采集
- CCD陣列檢測器用于UV-Vis數(shù)據(jù)的快速采集
· 同時解析量子點
· 易于實現(xiàn)能量轉(zhuǎn)移研究
· 模塊設計以滿足不同實驗的需求
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