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解析近紅外熒光光譜儀的主要特點(diǎn)

來源:HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部   2017年04月24日 13:22  
      近紅外熒光光譜儀專門用于納米技術(shù)和納米材料的前沿研究,近紅外熒光光譜儀可以檢測到800-1700nm的近紅外范圍,可選~2μm的多通道檢測器和~3μm的單通道檢測器,同時(shí)也可實(shí)現(xiàn)紫外-可見區(qū)熒光光譜測量。專為單壁碳納米管(SWNTs)設(shè)計(jì)的NanoSizer®軟件,可計(jì)算熒光共振能量傳遞(FRET)和碳管內(nèi)徑分布,并且在微秒時(shí)間內(nèi)就能獲得完整的二維光譜圖,1秒內(nèi)獲得的激發(fā)-發(fā)射三維熒光光譜圖。  
近紅外熒光光譜儀的主要特點(diǎn):  
    ·一秒內(nèi)獲得激發(fā)-發(fā)射三維光譜  
    ·高靈敏度的近紅外InGaAs陣列檢測器  
    ·高光譜分辨率  
    ·易于實(shí)現(xiàn)SWNTs的定性和定量分析  
    ·可選多種檢測器適于紫外至近紅外光譜范圍的檢測需求:  
     -PMT用于高靈敏度和時(shí)間分辨的測量  
     -InGaAs陣列檢測器用于NIR數(shù)據(jù)的快速采集  
     -CCD陣列檢測器用于UV-Vis數(shù)據(jù)的快速采集  
    ·同時(shí)解析量子點(diǎn)  
    ·易于實(shí)現(xiàn)能量轉(zhuǎn)移研究  
    ·模塊設(shè)計(jì)以滿足不同實(shí)驗(yàn)的需求

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