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X射線膜厚儀,X熒光測厚儀,X-ray測厚儀

來源:深圳市鑫捷偉科技有限公司   2017年04月28日 11:34  

X光金屬鍍層測厚儀銷售Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及五金、半導體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層的厚度。只需要10-30秒即可獲得測量結(jié)果, zui小測量面積為直徑為0.1mm的圓面積; 測量范圍:0-35um;

X光金屬鍍層測厚儀銷售其特點為:激光自動對焦、全自動XYZ樣片臺、簡易自動對位、具溫度補償功能、十字線自動調(diào)整、可自行設(shè)計報告格式、多鍍層及電鍍液分析、具有競爭力的價格、五個可選準直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破壞性測厚儀器的機型。測量精度:誤差控制在±5%.

X光金屬鍍層測厚儀銷售標準規(guī)格

 

主機箱

輸入電壓

AC220±10% 50/60HZ

溝通方法

RS-232C

溫度控制

前置放大及機箱溫度控制

對焦

激光自動對焦

樣品對位

激光對位

安全裝置

若測量中箱門打開,X射線會在0.5秒內(nèi)關(guān)閉

表面泄漏

少于1 SV

多通道分析

通道數(shù)量

1024ch

溫度控制

自動前置放大溫度控制

脈沖處理

微電腦高速處理器

X射線源

X射線管

油冷,超微細對焦(選項)

高壓

0 - 50KV(程控)

管電流

0 - 1mA(程控)

目標靶

W靶(可選MoBe

準直器

種類

固定型或自動型(選項)

固定種類大小

可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.3mm

其他大?。ㄟx項)

自動種類大小

0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.3mm

計算機系統(tǒng)

計算機

IBM相容

顯示器

彩色顯示器

打印機

噴墨彩色打印機

校正

應(yīng)用

單鍍層,雙鍍層,合金鍍層,電鍍液

修正功能

密度修正,標準樣品再校正

2D、3D隨機位置測量

2D

均距表面測量

3D

表面排列處理測量

隨機位置

任意設(shè)定測量點

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