EMI預(yù)測(cè)試系統(tǒng)

確保EMI認(rèn)證測(cè)試質(zhì)量之*解決方案

EMI測(cè)試簡(jiǎn)介

電磁干擾（Electromagnetic  Interference,  EMI） 是一種普遍地充斥在我們的生活周遭的物理現(xiàn)象，一般常見(jiàn)的電磁干擾可分為人為與自然的類型。例如，汽車引擎的瞬間點(diǎn)火動(dòng)作、各式各樣的電磁輻射源或電子設(shè)備、又或者是在系統(tǒng)切換瞬間所產(chǎn)生的干擾信號(hào)、火花等。除此之外的自然電磁干擾源則以閃電與宇宙射線為經(jīng)常性地影響我們?nèi)粘Ｉ畹奈锢憩F(xiàn)象。而隨著電子產(chǎn)品與系統(tǒng)的使用量日益普及，所涵蓋的層面則包括從航天電子、醫(yī)療設(shè)備、計(jì)算機(jī)設(shè)備到行動(dòng)通訊產(chǎn)品，無(wú)一不是被密集地在各種應(yīng)用領(lǐng)域上提高其系統(tǒng)的使用量，因此導(dǎo)致伴隨在各種系統(tǒng)的電磁干擾效應(yīng)不斷地大幅成長(zhǎng)。為了提高對(duì)電磁干擾的免疫能力或是抑制自身產(chǎn)生的電磁干擾量以降低對(duì)其他電子產(chǎn)品的的訊號(hào)干擾，于是采用具有電磁干擾防護(hù)的設(shè)計(jì)措施就變得日益重要。

基于這些應(yīng)用上的考慮，因此在業(yè)界早已訂出適當(dāng)?shù)囊?guī)范來(lái)定義電磁干擾的規(guī)格及其在量測(cè)環(huán)境上的標(biāo)準(zhǔn)，例如，在美國(guó)所使用的FCC規(guī)范、在歐洲所使用的VDE規(guī)范、在日本所使用的JIS規(guī)范等等。

其次，就電磁波的傳波途徑而言，可將電磁干擾分類為傳導(dǎo)性與輻射性的來(lái)源。其中傳導(dǎo)性輻射的形成系來(lái)自于緊貼著電力現(xiàn)或纜在線的輻射訊號(hào)傳輸?shù)诫娮咏M件上或系統(tǒng)上所致，而輻射性的電磁干擾則是由電子系統(tǒng)的外箱、天線或其他零組件上產(chǎn)生之雜散諧波訊號(hào)所發(fā)出之電磁波，往往是干擾其他電子系統(tǒng)的電磁干擾源。隨著高科技的應(yīng)用層面進(jìn)展神速與日益廣泛，電磁干擾的議題也迅速地在各種應(yīng)用面向上快速散播，日益高速的操作性能與高密度整合性的半導(dǎo)體電子組件無(wú)形中使得許多訊號(hào)的干擾源既難偵測(cè)且難辨認(rèn)。因此，有必要藉由建立校正性的量測(cè)方法來(lái)建立一套因果關(guān)聯(lián)性的方法論，以達(dá)到確保其電磁兼容性、進(jìn)行電磁干擾源定位，以及偵測(cè)無(wú)線射頻的干擾等目的。在固緯電子的設(shè)計(jì)工藝展現(xiàn)之中，GSP-830擁有的傲視群倫性能項(xiàng)目不只是在背景噪聲可達(dá)-117dBm的條件下輕松地捕捉到極微弱性號(hào)的能力，同時(shí)在搭載一個(gè)20dB的前置增益放大器GAP-802下，更能使得GSP-830的背景噪聲性能降到-137dBm的準(zhǔn)位，由此則可更加擴(kuò)增其量測(cè)范圍。借著搭載有電磁干擾分析之應(yīng)用軟件與干擾源偵測(cè)配件的GSP-830在電磁干擾源的診斷分析上是的*解決方案。

電磁兼容性測(cè)試的需求已成為頻譜分析儀的市場(chǎng)發(fā)展?jié)摿Φ年P(guān)鍵預(yù)測(cè)指標(biāo)

電磁兼容性（Electromagnetic  compliance  EMC） 對(duì)目前的工業(yè)規(guī)格制定當(dāng)局與制造商而言一直是個(gè)熱門的議題，而由于在消費(fèi)性電子組件不斷整合的結(jié)果，使得我們所居住的環(huán)境中幾乎是到處充滿了無(wú)數(shù)可能的電磁輻射源。因此，需要藉助電磁兼容性的測(cè)試來(lái)確保各種電子產(chǎn)品的安全性與有效使用性。為了降低電磁干擾所帶來(lái)的風(fēng)險(xiǎn)，電子產(chǎn)品制造商往往會(huì)采用頻譜分析儀作為電磁兼容性的可靠度測(cè)試工具。而一般常用的輕巧而多功能型頻譜分析儀則往往可搭載合適的天線組合、線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)（Line  Impedance  StabilizationNetworks,  LISNs）以及近場(chǎng)式的偵測(cè)探棒來(lái)找出電磁干擾源。因此，采用頻譜分析儀的量測(cè)方案已成為大部分工程師在不愿意重復(fù)往返電磁兼容性實(shí)驗(yàn)室，以進(jìn)行兼容性認(rèn)證之既省錢又省時(shí)間的良策。

常頻譜分析儀所能涵蓋到的3~20GHz之頻段適用于檢查衛(wèi)星通訊系統(tǒng)與通訊設(shè)備的運(yùn)作測(cè)試，以及進(jìn)行無(wú)線系統(tǒng)執(zhí)行和故障修復(fù)的任務(wù)。故知通訊產(chǎn)業(yè)已成為頻譜分析儀市場(chǎng)成長(zhǎng)性zui重要的應(yīng)用市場(chǎng)區(qū)隔，因?yàn)楝F(xiàn)在此一應(yīng)用產(chǎn)業(yè)正持續(xù)地顯示出新一代無(wú)線網(wǎng)絡(luò)與標(biāo)準(zhǔn)必須通過(guò)電磁干擾的測(cè)試所帶來(lái)的可觀商機(jī)（如圖三所示）。

隨著WiMAX、WCDMA、衛(wèi)星通訊等通訊系統(tǒng)持續(xù)地演進(jìn)，勢(shì)將成為未來(lái)帶動(dòng)頻譜分析儀市場(chǎng)規(guī)模成長(zhǎng)性的主力先鋒。盡管頻譜分析儀已經(jīng)在過(guò)去傳統(tǒng)的電磁波干擾分析的應(yīng)用上聲名大噪，然而自從市場(chǎng)上引進(jìn)低價(jià)而輕巧的電磁干擾源偵測(cè)套件以來(lái)，已使得頻譜分析儀更加廣受中多終端使用者的喜愛(ài)。其中，主要可歸因于除了手持式電磁干擾源偵測(cè)儀器的發(fā)展，zui重要的是可搭載電磁干擾源偵測(cè)套件與電磁干擾分析應(yīng)用軟件的頻譜分析儀。雖然手持式電磁干擾源偵測(cè)儀器有其輕巧的可移植性與移動(dòng)性，然而論及電磁干擾分析之功能與性能的完整性而言，則非屬可搭載電磁干擾源偵測(cè)套件與電磁干擾分析應(yīng)用軟件的頻譜分析儀不足以成局。不論未來(lái)的手持式電磁干擾源偵測(cè)儀器的使用量進(jìn)展有多快速，大多數(shù)的頻譜分析儀廠商必然會(huì)體認(rèn)到其主要的營(yíng)收貢獻(xiàn)回受到過(guò)去以來(lái)的使用習(xí)慣之產(chǎn)品適用性所支配，尤其對(duì)于研發(fā)工程師而言更是成為降低使用成本的首要選項(xiàng)。即使現(xiàn)在的市場(chǎng)上有了可行的替代方案，已趨成熟的頻譜分析儀市場(chǎng)也將持續(xù)的保有適度的成長(zhǎng)動(dòng)力，就是因?yàn)殡姶偶嫒菪缘臏y(cè)試的重要性與市場(chǎng)潛力不可小覷之故。隨著高度的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)性與價(jià)格的靈敏度，廠商往往必須了解到開(kāi)發(fā)具有足夠的功能性與性能之產(chǎn)品是地重要，否則就無(wú)法滿足zui多客戶或中端使用者的測(cè)試需求。

電磁干擾的量測(cè)原理之回顧

盡管電子與電機(jī)產(chǎn)業(yè)的發(fā)展趨勢(shì)有越來(lái)越多的電磁干擾挑戰(zhàn)亟待克服，已有種種的解決方案被發(fā)展出以處理過(guò)去以來(lái)*的電磁干擾問(wèn)題。然而就營(yíng)銷研究的觀點(diǎn)而言，可透過(guò)適當(dāng)?shù)南到y(tǒng)化追溯之步驟將電磁干擾源之技術(shù)性需求的市場(chǎng)予以分解為區(qū)隔、標(biāo)示和定位等階段。因此，在診斷電磁干擾問(wèn)題市場(chǎng)區(qū)隔階段的當(dāng)務(wù)之急是確認(rèn)并量測(cè)出導(dǎo)致通訊效能惡化的干擾訊號(hào)源、區(qū)別出靜態(tài)與動(dòng)態(tài)的干擾訊號(hào)，以找出其內(nèi)部與外部的干擾源，在此我們將運(yùn)用頻譜分析儀來(lái)闡述電磁干擾的量測(cè)原理。為了符合zui嚴(yán)謹(jǐn)?shù)碾姶虐踩J(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，每一項(xiàng)電子產(chǎn)品皆須通過(guò)zui完整的兼容性、安全性與EMI/RF測(cè)試。特別是在提交產(chǎn)品到EMI實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行zui后的認(rèn)證之前，尤須考慮到節(jié)省時(shí)間與成本效率，以求大幅縮短上市的時(shí)間而能夠快速地將新產(chǎn)品在各地區(qū)之市場(chǎng)展開(kāi)*的行動(dòng)。因此，只要擁有一套頻譜分析儀的電磁干擾診斷分析的解決方案，則電子產(chǎn)品的造商將能夠輕松地建立其電磁干擾測(cè)試的生產(chǎn)線，而電子系統(tǒng)的研發(fā)工程師則可在具備充足的技術(shù)性能耐之下，藉由輻射性或傳導(dǎo)性電磁干擾的知識(shí)發(fā)展出高新的技術(shù)能量，以提升企業(yè)的產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力。一般典型的電磁干擾認(rèn)證測(cè)試活動(dòng)通常在電磁干擾量測(cè)的密閉室（RF Chamber）或空曠場(chǎng)地（Open Side）上進(jìn)行，只要利用接收天線往往就能捕捉到距離 8 到 10 公尺遠(yuǎn)的電磁干擾放射源，此意謂著電磁干擾放射源可能來(lái)自于待測(cè)組件內(nèi)部的任何一個(gè)位置點(diǎn)，因此用天線就可接收到任何來(lái)自于上方下面或是左右兩側(cè)所發(fā)出的電磁干擾放射源，如圖四所示。

在作法上可將待測(cè)組件置于旋轉(zhuǎn)臺(tái)上，而接收天線可設(shè)在距離待測(cè)組件遠(yuǎn)達(dá)10公尺之處，且可隨意調(diào)整其電波指向的傾斜姿態(tài)，同時(shí)須把天線的輸出端連接到置于在屏蔽室內(nèi)的頻譜分析儀并確保其隔離環(huán)境下之接地性。在量測(cè)過(guò)程中，置于旋轉(zhuǎn)臺(tái)上的待測(cè)組件保持360度旋轉(zhuǎn)，如此可確保天線能夠捕捉到全向來(lái)源的電磁干擾放射信號(hào)，其中該天線也具有上下升降調(diào)整的功能以利于觀察到來(lái)自上方的電磁干擾放射源。然而，整個(gè)電磁干擾測(cè)試結(jié)果卻無(wú)法地辨別出在待測(cè)組件上詳細(xì)的電磁干擾放射源位置，特別是當(dāng)電磁干擾放射信號(hào)太強(qiáng)而難以調(diào)整時(shí)，就必須事先確認(rèn)調(diào)降電磁干擾放射信號(hào)，此時(shí)近場(chǎng)電磁干擾偵測(cè)套件即可用來(lái)找出待測(cè)組件上的電磁干擾放射源。

GKT-006是一款可連接到所有頻譜分析儀上來(lái)進(jìn)行電磁場(chǎng)偵測(cè)的近場(chǎng)偵測(cè)套件，電磁干擾偵測(cè)的進(jìn)行是用偵測(cè)探棒或探針來(lái)貼近待測(cè)組件，如圖五所示。當(dāng)用偵測(cè)探棒或探針來(lái)貼近電磁干擾放射源時(shí)，電磁場(chǎng)會(huì)經(jīng)由偵測(cè)探棒或探針的感應(yīng)而在頻譜分析儀上顯示出電磁干擾放射信號(hào)的強(qiáng)度，因此而可將電磁干擾放射源作的定位。在操作過(guò)程中所用到的偵測(cè)探棒或探針之應(yīng)用原理系藉由電磁場(chǎng)感應(yīng)而得之非接觸性量測(cè)法，而這些偵測(cè)探棒或探針則是由塑料外殼所包覆，奇特點(diǎn)在于避免與待測(cè)組件碰觸而產(chǎn)生不必要的短路風(fēng)險(xiǎn)。在診斷分析的應(yīng)用彈性考慮方面，可因應(yīng)不同頻率與待測(cè)組件外型大小的需要來(lái)選用合適的偵測(cè)探棒或探針。

針式的偵測(cè)套件是一種直接接觸性量測(cè)工具，可經(jīng)由偵測(cè)探針頭直接測(cè)試電路，即使在未接地處理的偵測(cè)探針上，仍可地量測(cè)到到無(wú)線射頻訊號(hào)，故其特色為點(diǎn)測(cè)試與定位電磁干擾放射源。頻譜分析儀是目前zui廣泛被應(yīng)用在電磁干擾放射源量測(cè)的主要儀器，頻譜分析儀是能夠有效提供攸關(guān)訊號(hào)頻率與強(qiáng)度資訊的量測(cè)工具。運(yùn)用可移動(dòng)式的偵測(cè)套件可以快速且地定位電磁干擾放射源，同時(shí)在診斷分析過(guò)程中可徑行使用頻譜分析儀"Peak  Hold"的追蹤模式來(lái)紀(jì)錄下電磁干擾放射信號(hào)的相關(guān)信息。值得一提的是，當(dāng)要量測(cè)的電磁干擾放射源信號(hào)太弱時(shí)，可加裝前置放大器來(lái)放大電磁干擾放射源信號(hào)以便于量測(cè)。GSP-830 頻譜分析儀本身即是自動(dòng)化測(cè)試儀器而無(wú)須外加計(jì)算機(jī)的控制，使用者可輕松地透過(guò)面板上的鍵盤來(lái)定義其所需的宏，并將大部分設(shè)定值存入序列集之中，而每個(gè)序列則包含各自的中止指令可供在量測(cè)的瞬間觀察量測(cè)結(jié)果的功能。透過(guò)配備電磁干擾濾波器的頻譜分析儀可快速執(zhí)行 EMI 的前測(cè)工作，這是 GW  Instek 在 EMI 診斷測(cè)試上所提供的*解決方案（如圖六所示）。

EMI量測(cè)的接口與裝置連接步驟

這種電磁干擾放射源的偵測(cè)套件依據(jù)其所適合的量測(cè)特性搭配不同類型的連接器，一旦偵測(cè)探棒或探針要連接到頻譜分析儀時(shí)，就必須考慮其所適用的轉(zhuǎn)接頭規(guī)格，茲列舉幾種可行的連接架構(gòu)如下：

1. 當(dāng)線圈式偵測(cè)探棒  ANT-01,  ANT-02  and  ANT-03 連接上頻譜分析儀時(shí)，就須用到一個(gè)N對(duì)BNC的轉(zhuǎn)接頭（ADP-01），因?yàn)檫@些偵測(cè)套件吻合  BNC型的接頭規(guī)格，同時(shí)接到GKT-006上的纜線也必須配妥其兩端的BNC接頭。

（備注:這種電磁干擾放射源的偵測(cè)探棒或探針可用于捕捉電視機(jī)或收音機(jī)周圍的信號(hào)，而這些周圍信號(hào)一般被視為前測(cè)中的背景噪聲。）

（備注：由于一般示波器的輸入阻抗并非 50 歐姆而會(huì)造成相當(dāng)大之量測(cè)誤差，因此無(wú)法用作無(wú)線射頻的偵測(cè)套件。）

 2. 當(dāng)使用偵測(cè)探針  PR-03 于點(diǎn)測(cè)試以追蹤電路的導(dǎo)電特性時(shí)，須將 SMA 無(wú)線射頻纜線與 ADP-02 （N 對(duì) SMA轉(zhuǎn)接頭）依圖十一所示的方式予以連接。

范例一（電路板件的簡(jiǎn)易測(cè)試）

圖十二是一個(gè)應(yīng)用線圈探棒來(lái)進(jìn)行簡(jiǎn)易量測(cè)電磁干擾放射源的實(shí)際范例，在此范例中會(huì)用到ANT-01、BNC纜線、ADP-01和一個(gè)20dB 前置放大器  （GAP-802）來(lái)捕捉一套切換式電源模塊的電磁干擾放射源，其中3GHz 頻譜分析儀GSP-830在本量測(cè)范例發(fā)揮了關(guān)鍵性的作用。

范例二（設(shè)備機(jī)臺(tái)進(jìn)階測(cè)試的前測(cè)工具）

在半導(dǎo)體制程上往往須仰賴高精度的機(jī)械手臂抓取芯片或大型的液晶面板玻璃，然而由于電磁干擾的因素而造成原始的自動(dòng)化程序產(chǎn)生錯(cuò)誤碼，勢(shì)將擴(kuò)大制程失敗的損失成本，因此制程設(shè)備公司往往會(huì)運(yùn)用動(dòng)態(tài)的測(cè)試機(jī)臺(tái)來(lái)模擬各種電磁干擾的現(xiàn)象。其探討輻射性與傳導(dǎo)性電磁干擾放射的影響即可由實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)來(lái)進(jìn)行，傳導(dǎo)性電磁干擾放射實(shí)驗(yàn)的架構(gòu)簡(jiǎn)述如下：

就GSP-830頻譜分析儀之電磁干擾診斷分析工具裝置的架設(shè)而言，其所提供的設(shè)定涵蓋了兩組基本的應(yīng)用頻 段 ， 亦即在120KHz的解析度頻寬RBW之下的30MHz~300MHz與300MHz~1GHz。首先，鍵入"Trace"功能鍵并按選"Peak"功能來(lái)找出zui大的噪聲準(zhǔn)位之主要來(lái)源。其次，進(jìn)入"More"之選項(xiàng)后再鍵入  "Detection" 功能鍵即可得出基本的測(cè)試結(jié)果。至于需要進(jìn)一步之進(jìn)階測(cè)試項(xiàng)目的話，我們可選定噪聲之主要來(lái)源的峰值位置  （例如120MHz），將其設(shè)定為中心頻率后并展頻范圍4MHz，然后在按"Detection"功能鍵并鍵入"Quasi -Peak"之功能項(xiàng)，zui后在按選"AVG"之功能項(xiàng)即可找到其zui大的噪聲之平均值。

傳導(dǎo)性電磁干擾之量測(cè)系統(tǒng)

一般的噪聲干擾源可分為共模噪聲與差模噪聲，其中這兩個(gè)噪聲干擾源成份則是由其個(gè)別之電流貢獻(xiàn)所產(chǎn)生，故此雜訊藉助于線阻抗穩(wěn)定化網(wǎng)路（line impedance stabilization network, LISN）萃取得出（如圖十所示）。且其在引入噪聲隔離器之后的量測(cè)值即可在頻譜分析儀上得出。

如何判斷出EMI與RFI的良策

就電磁波的傳導(dǎo)方式而論，電磁噪聲可分為輻射性與傳導(dǎo)性兩種噪聲源，而三種構(gòu)成噪聲干擾的關(guān)鍵要素則包含了噪聲的產(chǎn)生來(lái)源、被噪聲所干擾的對(duì)象與噪聲的傳播路徑，其中噪聲干擾源可能是來(lái)自于局部端點(diǎn)、遠(yuǎn)場(chǎng)端點(diǎn)、鄰近的電力線或是天線等，針對(duì)這些問(wèn)題，有三種原則可用以處理電磁干擾的難題。首先，盡可能避開(kāi)噪聲的產(chǎn)生來(lái)源。其次，可透過(guò)建立抗電磁干擾機(jī)制或裝置來(lái)保護(hù)易受干擾對(duì)象如TV、PC，或通訊系統(tǒng)等，而zui后的重點(diǎn)是設(shè)法讓噪聲的傳播路徑被*阻擋或降低其傳播機(jī)率。許多產(chǎn)業(yè)界往往需要EMI的認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范以符合市場(chǎng)上所*的電磁兼容性，這種被核準(zhǔn)的EMI標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于大多數(shù)的客戶來(lái)說(shuō)是非常重要的，因?yàn)槊總€(gè)交易的電子產(chǎn)品系統(tǒng)皆必須從各個(gè)不同的廠商所提供的EMI防護(hù)措施以確保其產(chǎn)品功能的正常運(yùn)作。EMI除錯(cuò)偵測(cè)無(wú)異于一般的對(duì)象之電磁特性測(cè)試，它能在正式的認(rèn)證程序進(jìn)行之前帶給所有完成充分準(zhǔn)備的應(yīng)用工程師令人激賞的經(jīng)驗(yàn)。然而對(duì)那些未充分準(zhǔn)備前測(cè)者而言，正式的認(rèn)證程序進(jìn)行則是一樁冒險(xiǎn)的工作。不幸的是， 在快速變動(dòng)的EMI/EMC產(chǎn)業(yè)中 ，EMI/EMC的認(rèn)證測(cè)試準(zhǔn)備不足所產(chǎn)生的瓶頸成本往往

衍生了更多產(chǎn)品上市之機(jī)會(huì)成本。因?yàn)?span lang="EN-US">EMI/EMC的認(rèn)證測(cè)試失敗而必須重新規(guī)劃新的認(rèn)證測(cè)試，往往意謂著產(chǎn)品上市的營(yíng)收損失及其因延誤商機(jī)而增加的機(jī)會(huì)成本。

產(chǎn)品上市的營(yíng)收損失及其因延誤商機(jī)而增加的機(jī)會(huì)成本往往是取決于EMI/EMC的測(cè)試認(rèn)證能否快速通過(guò)，許多公司因?yàn)轶w認(rèn)到這個(gè)事實(shí)而愿意大力投資EMI/EMC測(cè)試認(rèn)證的前測(cè)活動(dòng)，以確保地就能夠快速通過(guò)測(cè)試認(rèn)證的審核作業(yè)。因?yàn)樵诋a(chǎn)品離開(kāi)公司之前而找出的產(chǎn)品

設(shè)計(jì)錯(cuò)誤往往可能是事半功倍，一旦產(chǎn)品流入EMI/EMC測(cè)試認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室之后就會(huì)有導(dǎo)致亡羊補(bǔ)牢的風(fēng)險(xiǎn)，只有擁有一部能的EMI/EMC測(cè)試認(rèn)證的前測(cè)設(shè)備才能確保降低更多無(wú)謂的損失。由于EMI/EMC測(cè)試認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室往往是采用自動(dòng)化的測(cè)試系統(tǒng)，且EMI/EMC測(cè)試的作業(yè)比起傳統(tǒng)的備用開(kāi)發(fā)測(cè)試系統(tǒng)更具有完整性，而要求大部分的工程師*地測(cè)試其設(shè)計(jì)似乎是勞師動(dòng)眾且所費(fèi)不眥。

基于上述的種種緣故，GSP-830提供了所有攸關(guān)EMI/EMC 的 測(cè) 試 認(rèn) 證 作 業(yè) 的工 程 師 一 套 全 方 位 的EMI/EMC前測(cè)工具，GSP-830所搭載之*的EMI掃描式量測(cè)軟件可以快速滿足許多重要的產(chǎn)業(yè)規(guī)格需求，同時(shí)在固緯電子的精簡(jiǎn)產(chǎn)品包裝中內(nèi)含EMI軟件能夠使得工程師快速找到EMI/EMC的問(wèn)題。有了這套測(cè)試設(shè)備，則在種種量測(cè)上所需要的人力配置上即可完善地納入現(xiàn)場(chǎng)作業(yè)，以支持各種必要性的電磁干擾針斷分析。則在GSP-830上可進(jìn)行的高速量測(cè)作業(yè)，可以讓工程師*地貼近真實(shí)的EMI/EMC認(rèn)證測(cè)試作業(yè)，而其快速地點(diǎn)檢大量規(guī)格的功能足以大幅降低認(rèn)證測(cè)試中意外失敗的機(jī)率。憑借著固緯電子所提供的GSP-830頻譜分析儀，則從9kHz到3GHz的操作頻率范圍中，可以幫助天線設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)工程師發(fā)出*的EMI/EMC測(cè)試流程，以提高噪聲偵測(cè)的的效能。地?cái)U(kuò)大訊號(hào)量測(cè)上的搜尋范圍，高階的用戶接口環(huán)境更帶給所有的研發(fā)工作者一個(gè)*的視訊體驗(yàn)，而多樣化的功能則使得量測(cè)工作變得更容易且。GSP-830所提供的不僅是全市場(chǎng)上zui大的性能對(duì)價(jià)格比值，而運(yùn)用GSP-830作為EMI/EMC認(rèn)證測(cè)試程序上的前測(cè)工具，將可有效地消除在認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行EMI測(cè)試之后量測(cè)運(yùn)算上所造成的誤差。GSP-830在主導(dǎo)EMI量測(cè)上已取得之足夠的優(yōu)勢(shì)，以進(jìn)一步推升到能夠涵蓋到zui多電子應(yīng)用領(lǐng)域的EMI/EMC測(cè)試產(chǎn)業(yè)，對(duì)于大多數(shù)亟待短時(shí)間內(nèi)快速通過(guò)EMI/EMC認(rèn)證測(cè)試程序的產(chǎn)品上市計(jì)劃而言，不啻是一項(xiàng)重大的福音。而在EMI/EMC認(rèn)證測(cè)試程序的過(guò)程中若有任何問(wèn)題產(chǎn)生，亦可透過(guò)快速的電路解析工具來(lái)排除各種疑難雜癥，GSP-830不僅能夠協(xié)助zui多的工程師找到并解決惱人的EMI/EMC難題，進(jìn)而避免了面臨過(guò)時(shí)儀器與功能性不足的量測(cè)系統(tǒng)而產(chǎn)生的挫折感。

結(jié)論與建議

由于種種高階技術(shù)整合的因素，使得預(yù)防性的EMI 防護(hù)工作已然成為在設(shè)計(jì)電子與儀器產(chǎn)品上的盲點(diǎn)，同時(shí)近年來(lái)由于PC與通訊產(chǎn)業(yè)的發(fā)展一日千里，也使得越來(lái)越多的電子產(chǎn)品的工作頻率由數(shù)個(gè)MHz迅速竄升到數(shù)個(gè)GHz。為了使電子產(chǎn)品在運(yùn)作上能夠降低至zui小的訊號(hào)干擾程度，有必要制定出zui嚴(yán)格的EMI標(biāo)準(zhǔn)，特別是在EMI外泄或是從任何電子產(chǎn)品所散射出的電磁輻射量的規(guī)格，都必須在成功地完成電子系統(tǒng)之設(shè)計(jì)與開(kāi)發(fā)之后遵循各國(guó)所訂出的EMI標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。而為了獲致電子產(chǎn)品的快速上市，各個(gè)制造業(yè)廠家無(wú)不使出渾身解數(shù)，因而往往在EMI/EMC認(rèn)證測(cè)試程序之正式送測(cè)前花費(fèi)可觀的成本企求在通過(guò)EMI/EMC認(rèn)證測(cè)試程序找到并解決掉EMI干擾源的問(wèn)題。固緯電子所提供的GSP-830頻譜分析儀上，搭載著GKT-006偵測(cè)套件中包含了四種偵測(cè)器、兩個(gè)轉(zhuǎn)接頭與兩條無(wú)線射頻纜線，將此偵測(cè)套件連接上一部頻譜分析儀，則定位在待測(cè)組件上的電磁干擾放射源將是易如反掌的工作。GKT-006偵測(cè)套件是一款能的診斷分析工具，它能夠讓任何送到電磁干擾實(shí)測(cè)前的故障維修與前測(cè)工作暢行無(wú)阻。另一方面，在電子制造業(yè)或半導(dǎo)體生產(chǎn)線設(shè)備機(jī)臺(tái)的進(jìn)階測(cè)試上，亦可透過(guò)輻射性與傳導(dǎo)性電磁干擾放射的實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)來(lái)架構(gòu)出能的電磁干擾故障分析。

EMI介紹

對(duì)雜訊區(qū)分

1）  傳導(dǎo)妨害波：經(jīng)過(guò)電源線傳導(dǎo)出去的電波，頻率30MHz以下者稱之。

2）  輻射妨害波及其直接輻射出去的電磁波，從30MHz～1GHz皆為管制對(duì)象。

EMI測(cè)量的相關(guān)規(guī)定

1）              EMI所測(cè)量的項(xiàng)目，30MHz以下所測(cè)量的為電源傳導(dǎo)，30MHz-1GHz所測(cè)量的為輻射傳導(dǎo)。

2）              在測(cè)定儀器設(shè)定必須在RBW = 9K & 120KHz下達(dá)成下面的目標(biāo)。根據(jù)EMI測(cè)試的基本硬件要求，頻譜分析儀必須配置EMI濾波器（預(yù)選器），以達(dá)到EMI接收機(jī)的測(cè)試基本條件：

A.     峰峰值、平均值和準(zhǔn)峰值檢波器功能；

B.      RBW:9KHz和120KHz的EMI濾波器，

C.      3.6dB帶寬；

此環(huán)境必須在背景雜訊極低的條件場(chǎng)所或隔離外界干擾源之環(huán)境底下才能得到量測(cè)標(biāo)準(zhǔn)值。

 設(shè)備配置及報(bào)價(jià)

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