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OmniScan X3探傷儀-全聚焦

來源:上海如慶電子科技有限公司   2019年11月07日 12:05  

OmniScan X3探傷儀-全聚焦

OmniScan X3探傷儀-全聚焦

 

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長期穩(wěn)定供應奧林巴斯各類探頭,特殊探頭,超聲配件系列產(chǎn)品,如有需求,請與我司溝通獲取更多詳情信息。

OmniScan X3探傷儀匯總了進行相控陣超聲檢測(PAUT)所需的必要工具,如:TOFD、兩個UT通道、8組聲束設置,以及16:64PR、16:128PR和32:128PR配置*。此外,還新添了一些強大的創(chuàng)新功能,其中包括:

  全聚焦方式(TFM)/全矩陣捕獲(FMC),由64晶片孔徑支持

  更好的相控陣成像效果,包含一個創(chuàng)新型實時TFM包絡功能

  用于TFM模式的聲學影響圖(AIM)模擬器25 GB的文件容量

  大1024 × 1024像素的TFM重建模式,以及同時動態(tài)呈現(xiàn)4個TFM視圖的模式

  簡化的用戶界面,包含機載掃查計劃

  連接到奧林巴斯科學云(OSC)系統(tǒng)的無線連通性能,可以方便地使儀器軟件保持更新的狀態(tài)。

  綜合性機載掃查計劃工具,有助于用戶觀察到檢測的圖像,從而降低了出錯的風險。包括全聚焦方式(TFM)區(qū)域在內(nèi)的整個掃查計劃,可以在一個簡單的工作流程中創(chuàng)建。借助改進的校準工具,以及同時配置探頭和聲束組、在儀器上創(chuàng)建雙晶線陣、矩陣和雙矩陣模式,及自動楔塊驗證等功能,還可以更迅速地創(chuàng)建設置。

  儀器符合IP65評級標準:具有防塵防水的特性。除了具備所有OmniScan探傷儀*的性能可靠,使用方便的特點,這款儀器還為用戶提供有助于更清晰地解讀缺陷的高質(zhì)量圖像。通過使用全聚焦方式(TFM)功能,用戶可以獲得工件整個體積各個部分的更清晰的圖像,并將這些圖像融合在一起生成正確反映了工件幾何形狀的圖像,這樣就可使用戶對使用常規(guī)相控陣技術獲得的缺陷特性進行驗證。其它一些有助于生成圖像的功能包括16比特A掃描、插值和平滑功能。此外,10.6英寸WXGA顯示屏在大多數(shù)光線條件下都可以提供清晰可見的圖像。

  用戶無論使用OmniScan X3探傷儀還是使用PC機,都可以更迅速地進行數(shù)據(jù)分析,并完成報告的制作。儀器還配備了多種有用的數(shù)據(jù)解讀工具:

  圓周外徑(COD)TFM圖像重建,便于對長焊縫的缺陷指示進行解讀和定量

  融合B掃描,便于對相控陣焊縫的缺陷指示進行篩查,同時可使工作流程繼續(xù)保持簡單流暢的特性

  無論您正在檢測的是管道、焊縫、壓力容器,還是復合材料,OmniScan X3探傷儀都可以使用戶有效地完成檢測工作,并充滿信心地對缺陷進行解讀。

  *16:64PR配置會將聲速組的數(shù)量限制為1個TOFD、2個PA組和2個TFM組。

  關于奧林巴斯

  奧林巴斯是范圍內(nèi)研發(fā)新技術的先鋒企業(yè),已經(jīng)在醫(yī)學技術、生命科學、工業(yè)解決方案,以及攝像機和音頻產(chǎn)品領域中,打造了許多創(chuàng)新型光學技術和數(shù)碼技術的解決方案。奧林巴斯在其將近100年的發(fā)展過程中,始終秉承著忠于社會,造福人民的理念,努力使人們生活得更健康、更安全、更充實。

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