涂層測(cè)厚儀發(fā)展概述

    涂層測(cè)厚儀的技術(shù)簡(jiǎn)要介紹了涂鍍層測(cè)厚技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀及時(shí)代特征，重點(diǎn)介紹了目前國(guó)內(nèi)外磁性涂鍍層測(cè)厚儀典型產(chǎn)品 的功能特點(diǎn)，初步探討了涂鍍層測(cè)厚技術(shù)的未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)。 磁性涂鍍層測(cè)厚儀 厚度測(cè)量是涂鍍層物性檢測(cè)的重要項(xiàng)目之一，RESETO銳絲特伴著新型工程材料開(kāi)發(fā)，微電子技術(shù)應(yīng)用和標(biāo)準(zhǔn)化事業(yè)進(jìn)展，涂鍍層測(cè)厚技術(shù)近幾年來(lái)在國(guó)內(nèi)外得到迅速發(fā)展。
    與此同時(shí)，采取多種原理，應(yīng)用范圍廣泛，有較高科技含量，日趨智能化的各類(lèi)測(cè)厚儀相繼問(wèn)世，有力地推動(dòng)了工程物理檢測(cè)的發(fā)展。與*技術(shù)和同類(lèi)產(chǎn)品相比，目前我國(guó)涂鍍層測(cè)厚技術(shù)在總體上相當(dāng)于*工業(yè)國(guó)家19世紀(jì)90年代初期水平，面對(duì)入世和經(jīng)貿(mào)一體化的挑戰(zhàn)，我們當(dāng)奮起直追，增強(qiáng)參與競(jìng)爭(zhēng)的適應(yīng)力和創(chuàng)新意識(shí)，搶抓機(jī)遇，努力實(shí)現(xiàn)測(cè)厚技術(shù)的跨越式發(fā)展。 涂鍍層測(cè)厚技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀 測(cè)量方法原理多樣化 涂鍍層厚度測(cè)量，方法多樣，測(cè)試原理各不相同。在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),《金屬和其他涂蓋層厚度測(cè)量方法評(píng)述》中，將涂蓋層厚度測(cè)量方法分為無(wú)損法和破壞法兩類(lèi)，見(jiàn)表。 就涂鍍層測(cè)厚儀的應(yīng)用而言，目前國(guó)內(nèi)外仍普遍采用磁性法、渦流法、N射表涂蓋層厚度測(cè)量方法一覽表 無(wú)損法破壞法 磁性法稱(chēng)重法 渦流法分析法 N射線光譜法庫(kù)侖法 !射線反向散射法金相顯微鏡法 光切顯微鏡法與輪廓儀法 干涉顯微鏡法 注：某些情況下可能是破壞的；可以是無(wú)損的。 線光譜法和!射線反向散射法等無(wú)損法測(cè)量。本文作者重點(diǎn)探 討應(yīng)用磁性方法原理的涂鍍層測(cè)厚儀開(kāi)發(fā)現(xiàn)狀及功能特點(diǎn)。 測(cè)試技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)體系化 在*工業(yè)國(guó)家，鍍層測(cè)厚技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)已自成體系，而且有多種規(guī)格的涂鍍層測(cè)厚儀可同時(shí)兼顧雙重原理，滿(mǎn)足多項(xiàng)試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)要求，因而大大地拓展其應(yīng)用領(lǐng)域。也為我國(guó)采用*技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，推動(dòng)國(guó)產(chǎn)儀器更新?lián)Q代提供了借鑒與參考。 據(jù)不*統(tǒng)計(jì)，迄今我國(guó)已制訂涉及漆膜層測(cè)厚儀技術(shù)的方法或儀器的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和專(zhuān)業(yè)標(biāo)準(zhǔn)達(dá)M"余項(xiàng)，該標(biāo)準(zhǔn)體系的建立與完善，將嚴(yán)格規(guī)范涂鍍層厚度檢測(cè)及儀器開(kāi)發(fā)的質(zhì)量要求，有效地促進(jìn)測(cè)厚技術(shù)的總體發(fā)展。 
    測(cè)厚儀開(kāi)發(fā)日趨智能化 回顧涂層測(cè)厚儀技術(shù)發(fā)展的歷史沿革，市場(chǎng)上廠家集中表現(xiàn)為以下技術(shù)特征： 電路設(shè)計(jì)：電子管———晶體管———集成電路———芯片L 模塊化。 整機(jī)功能：?jiǎn)危ㄔ恚┕δ苄?mdash;——具有部分統(tǒng)計(jì)功能型———雙 原理通用型———智能型。 探頭制式：主機(jī)探頭分離式———主機(jī)與探頭一體式（內(nèi)置式 探頭）———主機(jī)配多規(guī)格探頭（可供選擇更換）。 量值顯示：機(jī)械式（千分表）———表頭指針式———液晶數(shù)字 式———數(shù)據(jù)打印式（外接或內(nèi)置）。 磁性膜厚儀開(kāi)發(fā)現(xiàn)狀 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)磁性金屬基體上非磁性涂蓋層厚度 厚度測(cè)量———磁性方法）指出，磁性測(cè)厚方法的原理，或是測(cè)量永jiu磁鐵（探頭）和基體金屬之間由于存在涂蓋層而引起磁引力的變化，或是測(cè)量通過(guò)涂蓋層和基體金屬磁路的磁阻變化。因此，磁 性測(cè)厚儀也包含兩種類(lèi)型：一類(lèi)是測(cè)量某一磁體與基體金屬間的磁引力；另一類(lèi)是測(cè)量通過(guò)涂蓋層和基體金屬磁通路的磁阻?，F(xiàn)將國(guó)內(nèi)外具代表性典型儀器的主要功能特點(diǎn)分述如下。 全自動(dòng)型涂鍍層測(cè)厚儀 德國(guó)RESETO公司開(kāi)發(fā)的G6和F6（磁吸力法全自動(dòng)型涂鍍層測(cè)厚儀，進(jìn)入中國(guó)市場(chǎng)后，迅速已為國(guó)內(nèi)用戶(hù)熟知。它作為系列化產(chǎn)品，有多種規(guī)格，可分別測(cè)量鋼鐵基體上非磁性涂鍍層厚度、非鐵基體或鋼鐵基體上鎳鍍層厚度。