IC芯片檢測用恒溫恒溫試驗箱滿足標準

來源：東莞市皓天試驗設備有限公司 2020年10月12日 09:16

IC芯片檢測用恒溫恒溫試驗箱滿足標準

恒溫恒濕試驗箱滿足標準：

　　1.GJB150.3 高溫試驗

　　2.GJB150.4 低溫試驗

　　3.GJB150.9 濕熱試驗

　　4.GB11158 高溫試驗箱技術條件

　　5.GB10589-89 低溫試驗箱技術條件

　　6.GB10592-89 高低溫試驗箱技術條件

　　7.GB/T10586-89 濕熱試驗箱技術條件

　　8.GB/T2423.1-2008 低溫試驗箱試驗方法

　　9.GB/T2423.2-2008 高溫試驗箱試驗方法

　　10.GB/T2423.3-2006 濕熱試驗箱試驗方法

　　11.GB/T2423.4-2008 交變濕熱試驗方法

　　12.GB/T2423.22-2002 溫度變化試驗方法

　　13.IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法

　　14.IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法

有關于更多的恒溫恒溫試驗箱歡迎大家來咨詢皓天設備，我們會為您一一作答!恒溫恒溫試驗箱在各個實驗當中起著非常重要的角色！

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