光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測元素的特征光譜通過樣品的蒸汽中待測元素的基態(tài)原子所吸收,由發(fā)射光譜被減弱的程度,進而求得樣品中待測元素的含量,它符合郎珀-比爾定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I為透射光強度,I0為發(fā)射光強度,T為透射比,L為光通過原子化器光程由于L是不變值所以A=KC。
佐明提供的光譜分析儀采用的雙通過單色儀設(shè)計,同時實現(xiàn)用快速掃描時間同時得到高靈敏度和大的動態(tài)范圍。這種性能對于表征DWDM部件和多路系統(tǒng)特性很重要,尤其在生產(chǎn)制造環(huán)境中,速度、準確度和生產(chǎn)能力是十分關(guān)鍵的因素。
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