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露點(diǎn)儀是能直接測(cè)出露點(diǎn)濕度的儀器。使一個(gè)鏡面處在樣品濕空氣中降溫，直到鏡面上隱現(xiàn)露滴（或冰晶）的瞬間，測(cè)出鏡面平均溫度，即為露點(diǎn)（霜）溫度。它測(cè)濕精度高，但需光潔度很高的鏡面，精度很高的溫控系統(tǒng)，以及靈敏度很高的露滴（冰晶）的光學(xué)探測(cè)系統(tǒng)。
鏡面污染對(duì)露點(diǎn)測(cè)量的影響：
鏡面污染影響主要表現(xiàn)在兩個(gè)方面；一是拉烏爾效應(yīng)，二是改變鏡面本底放射水平。拉烏爾效應(yīng)是由水溶性物質(zhì)造成的。如果被測(cè)氣體中攜帶這種物質(zhì)(一般是可溶性鹽類)則鏡面提前結(jié)露，使測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生正偏差。若污染物是不溶于水的微粒，如灰塵等，則會(huì)增加本底的散射水平，從而使光電露點(diǎn)儀發(fā)生零點(diǎn)漂移。此外，一些沸點(diǎn)比水低的容易冷凝的物質(zhì)(例如有機(jī)物)的蒸氣，不言而喻將對(duì)露點(diǎn)的測(cè)量產(chǎn)生干擾。因此，無論任何一種類型的露點(diǎn)儀都應(yīng)防止污染鏡面。一般說來，工業(yè)流程氣體分析污染的影響是比較嚴(yán)重的。但即使是在純氣的測(cè)量中鏡面的污染亦會(huì)隨時(shí)間增加而積累。
傳統(tǒng)的氧化鋁電容式露點(diǎn)儀有兩個(gè)不足：一是傳感器的響應(yīng)層厚度一般為1000納米，受此限制，此類傳感器響應(yīng)時(shí)間很慢，尤其在低濕時(shí)響應(yīng)更慢。二是隨著時(shí)間推移，氧化鋁經(jīng)過緩慢轉(zhuǎn)換過程會(huì)變成氫氧化鋁，從而導(dǎo)致露點(diǎn)儀產(chǎn)生標(biāo)定漂移，因而傳統(tǒng)的氧化鋁電容式露點(diǎn)儀需要頻繁地校準(zhǔn)。斯多克露點(diǎn)儀是世界上電容式露點(diǎn)儀的一大進(jìn)步，采用經(jīng)專門研發(fā)的雙陶瓷納米薄層替代傳統(tǒng)的氧化鋁，比傳統(tǒng)的氧化鋁電容式露點(diǎn)儀響應(yīng)更快速也更穩(wěn)定。采用僅24納米厚的超薄響應(yīng)層，意味著響應(yīng)時(shí)間要遠(yuǎn)快于競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手，面對(duì)更高的氣體溫度時(shí)傳感器也更具穩(wěn)定性。
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