MC-2000A涂層測(cè)厚儀-正確校準(zhǔn)方法

MC-2000A涂層測(cè)厚儀-正確校準(zhǔn)方法

儀器分為系統(tǒng)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)和鐵基校準(zhǔn)三 種校準(zhǔn)方式。其中鐵基校準(zhǔn)僅適用于 MC-2000A 型涂（鍍） 層測(cè)厚儀。在一般情況下直接測(cè)量即可，當(dāng)儀器鐵基與被測(cè)件 鐵基的磁性和表面粗糙度差別較大時(shí)，可以進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)以保 證測(cè)量精確度。

(1) 鐵基校準(zhǔn)（零點(diǎn)校準(zhǔn)）

涂層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)基體金屬的磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。為了保證測(cè)量的精確性，可以在測(cè)量測(cè)試件之前*行鐵基校準(zhǔn)。

校準(zhǔn)方法：在涂層測(cè)厚儀開機(jī)狀態(tài)下，將探頭垂直的放在被測(cè)試 件的裸露基體上進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量?jī)纱?，測(cè)完第二次按住探頭不動(dòng)按下"CAL"鍵，伴隨著兩聲蜂鳴即可完成鐵基的校準(zhǔn)。如果沒(méi)發(fā)出兩聲蜂鳴說(shuō)明操作有誤，重新按以上步驟操作直至發(fā)出兩聲蜂鳴即可。

(2) 兩點(diǎn)校準(zhǔn)

在測(cè)量過(guò)程當(dāng)中，如果發(fā)現(xiàn)個(gè)別測(cè)量值偏差較大可以通過(guò) 兩點(diǎn)校準(zhǔn)方法進(jìn)行調(diào)整。

校準(zhǔn)方法：把一個(gè)已知厚度的被測(cè)試件作為標(biāo)準(zhǔn)樣片進(jìn)行測(cè)量，如果顯示值與真實(shí)值不一致，可以通過(guò)"▲"、"▼"鍵進(jìn) 行加1或減1操作。按住"▲"、"▼"鍵不放可以進(jìn)行連續(xù)加、 減，直到顯示值和真實(shí)值相同為止。校準(zhǔn)完成后即可進(jìn)行正常測(cè)量。

(3) 系統(tǒng)校準(zhǔn)

儀器在出廠前已經(jīng)經(jīng)過(guò)技術(shù)人員系統(tǒng)校準(zhǔn)，為保證精確度也可在工作現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行二次系統(tǒng)校準(zhǔn)。

系統(tǒng)校準(zhǔn)過(guò)程：

在關(guān)機(jī)狀態(tài)下同時(shí)按住"ON/OFF"鍵和"MENU"鍵，先放 開"ON/OFF"鍵，然后放開"MENU"鍵即可進(jìn)入系統(tǒng)校準(zhǔn)模式。

本系統(tǒng)校準(zhǔn)共需要校準(zhǔn)五個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣片，進(jìn)入系統(tǒng)校準(zhǔn)后首先顯示"鐵基"界面，此時(shí)要把探頭垂直的放到被測(cè)件的裸露基體上進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量?jī)纱魏笕绻麥y(cè)量沒(méi)有錯(cuò)誤操作，伴隨著兩聲蜂鳴便進(jìn)入*一個(gè)樣片的測(cè)量。屏幕顯示出廠時(shí)提供的*一個(gè)樣片值。如果顯示的樣片值和真實(shí)值不符，可以通過(guò)"▲▼" 鍵來(lái)進(jìn)行加 1 或減 1 操作。按住"▲″或"▼"鍵不動(dòng)可以連續(xù)加或減，直到調(diào)整到顯示值和真實(shí)值相同為止。調(diào)整完樣片值之后即可對(duì)*一個(gè)樣片進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量?jī)纱螣o(wú)誤后，伴隨著兩聲蜂鳴，儀器進(jìn)入下一個(gè)樣片的校準(zhǔn)。若測(cè)量?jī)纱魏笕詿o(wú)兩聲蜂鳴，說(shuō)明操作有誤，重新測(cè)量一次即可。接下來(lái)四個(gè)樣片的調(diào)整方法同上。

當(dāng)?shù)谖鍌€(gè)樣片校準(zhǔn)完成后屏幕顯示 "0000μm''，進(jìn)入開機(jī)界面如圖 B，涂層測(cè)厚儀此時(shí)即完成了系統(tǒng)校準(zhǔn)過(guò)程。以后就可以對(duì)被測(cè)件直接進(jìn)行測(cè)量。

注意：這五個(gè)樣片可以使用儀器提供的標(biāo)準(zhǔn)片也可以使用 已知厚度的樣片作為標(biāo)準(zhǔn)片。樣片校準(zhǔn)時(shí)要按照由小到大的順 序進(jìn)行，相鄰樣片間應(yīng)該有一定的差值。系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)所選用的 鐵基必須是平整的而且其表面要大于30mm×30mm。