OmniScan X3超聲波相控陣探傷儀檢測(cè)奧氏體不銹鋼試塊

來(lái)源：增宜檢測(cè)技術(shù)（上海）有限公司 2021年08月27日 13:54

使用奧林巴斯OmniScan X3超聲波相控陣探傷儀檢測(cè)客戶(hù)帶來(lái)的奧氏體不銹鋼試塊，效果明顯，缺陷清晰可見(jiàn)。

典型的奧氏體不銹鋼檢測(cè)具有以下難點(diǎn)：

1.晶粒粗大，導(dǎo)致聲波散射嚴(yán)重，穿透能力差；

2.晶粒的各向異性導(dǎo)致聲波產(chǎn)生折射，缺陷定位不準(zhǔn)確。

我們采用雙線(xiàn)陣探頭+縱波斜楔塊的方案，可以有效的改善這些問(wèn)題，在這個(gè)演示中，我們同時(shí)采用了凹曲面楔塊，來(lái)增加凸面（Φ120mm）的耦合效果。

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