超薄膜厚度檢測(cè)技術(shù)

來(lái)源：深圳市秋山貿(mào)易有限公司 2021年11月17日 14:52

超薄膜厚度檢測(cè)技術(shù)

薄膜測(cè)試儀連續(xù)測(cè)厚機(jī)FT-A200 / FT-A200R

配備高精度測(cè)量頭和放大器單元的高duan機(jī)器。
只需設(shè)置從生產(chǎn)線上切下的薄膜，您就可以輕松地連續(xù)測(cè)量厚度。

FT-A200 測(cè)量范圍 / 10 μm 至 200 μm
FT-A200R 測(cè)量范圍 / 3 μm 至 100 μm
測(cè)量分辨率/ 0.01 μm

薄膜測(cè)試儀連續(xù)測(cè)厚機(jī)FT-D200

帶有內(nèi)置顯示屏的一體式緊湊型機(jī)器。
輸送功能得到進(jìn)一步提升，可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的連續(xù)測(cè)厚。

測(cè)量范圍 10 μm 至 500 μm
測(cè)量分辨率 / 0.1 μm

薄膜測(cè)試儀連續(xù)測(cè)厚機(jī)FT-D100NL

一體成型機(jī)的進(jìn)化版。
只需設(shè)置薄膜，您就可以在沒(méi)有引線的情況下從jian端測(cè)量厚度。

測(cè)量范圍 20 μm 至 500 μm
測(cè)量分辨率/0.1 μm

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