半導(dǎo)體SEMI F57中金屬元素和總有機(jī)碳分析解決方案

前言

自1947年第一塊晶體管誕生，人類從此步入了飛速發(fā)展的電子時(shí)代。經(jīng)歷70多年的發(fā)展，半導(dǎo)體技術(shù)不僅在先進(jìn)科研領(lǐng)域，也早已與人們的日常生活密不可分，如半導(dǎo)體芯片、智能汽車、智慧電網(wǎng)、5G通信、航空航天、國(guó)防、醫(yī)療衛(wèi)生等等。

1 挑戰(zhàn)

半導(dǎo)體中雜質(zhì)的存在使嚴(yán)格按周期性排列的原子所產(chǎn)生的周期性勢(shì)場(chǎng)受到破壞，這對(duì)半導(dǎo)體材料的性質(zhì)產(chǎn)生決定性的影響。因此，痕量水平半導(dǎo)體行業(yè)無(wú)機(jī)雜質(zhì)和有機(jī)污染物的檢測(cè)是操作過(guò)程中的一項(xiàng)重大挑戰(zhàn)。

什么是有機(jī)雜質(zhì)? 有機(jī)雜質(zhì)，也被稱為有機(jī)污染物，其存在可能會(huì)導(dǎo)致晶圓表面產(chǎn)生非預(yù)期的疏水性質(zhì)、增加表面的粗糙度、產(chǎn)生霧化表面、和破壞外延層的生長(zhǎng)，且在未先移除污染物的情況下，也會(huì)影響金屬污染的清洗效果。粒子污染則可能導(dǎo)致在蝕刻及微影工藝中，產(chǎn)生阻塞或遮蔽效應(yīng)；在薄膜成長(zhǎng)或沉積過(guò)程中，產(chǎn)生針孔和微孔，若粒子顆粒較大且具有導(dǎo)電性，甚至?xí)?dǎo)致線路短路。半導(dǎo)體元件生產(chǎn)過(guò)程中產(chǎn)生廢品的原因，50%是由清洗試劑以及材料內(nèi)部的污染元素造成的！

2 解決方案

通過(guò)配置高靈敏PlasmaQuant MS ICP-MS和濕法multi N/C UV HS總有機(jī)碳分析儀，可以滿足SEMI F57中對(duì)于金屬元素及總有機(jī)碳檢測(cè)的所有需求，簡(jiǎn)單、快捷、可靠！

 

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2. 總有機(jī)碳分析：multi N/C UV HS 總有機(jī)碳分析儀（TOC）

• 強(qiáng)氧化消解能力保證樣品完全氧化，254nm和185nm雙波長(zhǎng)高能量紫外反應(yīng)池。

• 全量程高聚焦NDIR檢測(cè)器，0-10000ppm測(cè)量范圍，無(wú)需量程轉(zhuǎn)換。自動(dòng)漂移校正、補(bǔ)償， 無(wú)需任何稀釋，免維護(hù)檢測(cè)器，滿足潔凈及污染任何狀態(tài)下樣品分析。

• 較強(qiáng)的抗干擾能力，避免其他雜質(zhì)共存干擾。

• 高靈敏度，高達(dá)20mL進(jìn)樣體積，靈活調(diào)節(jié)靈敏度，擴(kuò)展應(yīng)用范圍。

• 免維護(hù)帕爾貼干燥單元，無(wú)需模式干燥器及化學(xué)干燥劑，節(jié)省成本，操作更為簡(jiǎn)便。

• VITA流速管理系統(tǒng)，實(shí)時(shí)提供流速補(bǔ)償消除波動(dòng)，得到絕對(duì)可靠的分析結(jié)果，儀器長(zhǎng)期穩(wěn)定，一年內(nèi)無(wú)需反復(fù)校正。

• 較強(qiáng)的耐鹽能力，最高可允許85g/L含鹽樣品直接進(jìn)樣分析。

3 小結(jié)

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)SEMI F57：用于超純水和液態(tài)化學(xué)品輸送系統(tǒng)的聚合物材料及組件的規(guī)范文件要求，評(píng)價(jià)半導(dǎo)體輸送管道的性能，鑒于浸泡液的成分多樣性，需要儀器具有較強(qiáng)的抗干擾能力，同時(shí)對(duì)于潔凈與污染的評(píng)估需求，需要儀器既具有高靈敏度，又具有寬范圍的能力。

?德國(guó)耶拿長(zhǎng)期致力于金屬離子及總有機(jī)碳分析全套解決方案，深耕元素分析領(lǐng)域，積累眾多分析經(jīng)驗(yàn)。德國(guó)品質(zhì)，追求創(chuàng)新，德國(guó)耶拿PlasmaQuant MS電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）和multi N/C UV HS總有機(jī)碳分析儀完全滿足SEMI F57標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的22種金屬離子和總有機(jī)碳參數(shù)的檢測(cè)，助力半導(dǎo)體行業(yè)的發(fā)展！