BH分析儀測(cè)試異常是由哪些原因造成的

一、進(jìn)行高頻測(cè)量時(shí)更改繞組匝數(shù)后，為什么鐵芯損耗測(cè)量值會(huì)出現(xiàn)差異？

      產(chǎn)生差異的原因之一可能是受到了LC并聯(lián)諧振現(xiàn)象的影響。諧振頻率根據(jù)繞組匝數(shù)而變化。如果檢測(cè)電壓、檢測(cè)電流均在B-H分析儀的可測(cè)量范圍即可執(zhí)行鐵芯損耗測(cè)量，但B-H分析儀的輸入電容C與試樣的電感L會(huì)形成LC并聯(lián)諧振電路，所以在執(zhí)行高頻測(cè)量時(shí)需注意。使用時(shí)，請(qǐng)確保測(cè)量頻率在諧振頻率的1/10以下。諧振頻率fc可通過(guò)以下公式進(jìn)行計(jì)算。

      L：試樣的電感　C：B-H分析儀的輸入電容（SY-8218 / SY-8219約為18.5pF） N1：1次繞組匝數(shù)　N2：2次繞組匝數(shù)　

      此外，如果是高相位角(≧約87°)的試樣，其諧振影響將會(huì)變大，測(cè)量高相位角的試樣時(shí)，建議以諧振頻率1/20以下的頻率執(zhí)行測(cè)量。
      原因之二可能是受到了試樣內(nèi)部磁場(chǎng)(的強(qiáng)度)、或磁通密度B的不均衡影響。試樣磁導(dǎo)率較低、形狀非環(huán)形、或繞組不均衡時(shí)，試樣內(nèi)部的H、B的大小大多會(huì)根據(jù)試樣的位置而異。更改繞組匝數(shù)后，H的平均勵(lì)磁位置、或B的平均檢測(cè)位置會(huì)發(fā)生變化，從而使鐵芯損耗產(chǎn)生差異。

二、B-H分析儀測(cè)量線圈時(shí)繞組匝數(shù)和合理繞組方式

（1）適合測(cè)量的繞組匝數(shù)是多少？

推薦繞組匝數(shù)如下所示。
勵(lì)磁線圈N1：3圈以上
檢測(cè)線圈N2：1圈以上且N1≧N2

N1較少時(shí)所需磁場(chǎng)(的強(qiáng)度)則需要更大的電流，N2較多時(shí)檢測(cè)到的感應(yīng)電壓會(huì)增加。 此外，N1。

（2）試樣線圈的合理繞組方式是什么？

      線圈應(yīng)盡可能按相同間隔繞于試樣上，以確保磁芯內(nèi)的磁場(chǎng)(的強(qiáng)度)達(dá)到均衡、或磁通密度的檢測(cè)部位不會(huì)發(fā)生偏移。尤其是檢測(cè)線圈，應(yīng)貼合試樣進(jìn)行繞線，以確保無(wú)效磁通不會(huì)在檢測(cè)線圈與磁芯之間的空隙中發(fā)生鎖交。勵(lì)磁線圈與檢測(cè)線圈重疊時(shí)，先繞至檢測(cè)線圈使其與試樣貼合。勵(lì)磁線圈與檢測(cè)線圈的繞組匝數(shù)相同時(shí)，建議采用雙線繞組的方式。雙線繞組是指1次繞組(勵(lì)磁線圈)和2次繞組(檢測(cè)線圈)配套繞組，與分別各自繞組相比可減少漏磁通，改善1次～2次之間的耦合系數(shù)。

【參照】雙線繞組

三、通過(guò)正弦波勵(lì)磁使Bm的值增大后，測(cè)得的電流、或電壓波形不是正弦波形而且失真的原因

波形失真現(xiàn)象是試樣的特性。相對(duì)磁場(chǎng)(的強(qiáng)度)H的磁通密度B的大小會(huì)發(fā)生非線形變化所致。尤其是接近試樣的飽和磁通密度后，波形失真會(huì)更加明顯。

四、B-H分析儀測(cè)量時(shí)，鐵芯損耗等測(cè)量值發(fā)生大幅度變化的原因

軟磁性體一般均具有溫度特性。尤其是鐵氧體在接近室溫時(shí)的磁力特性不穩(wěn)定。B-H分析儀想要正確執(zhí)行軟磁性體的磁力特性測(cè)量時(shí)，需通過(guò)恒溫箱使試樣保持一定溫度的狀態(tài)下執(zhí)行測(cè)量。

      此外，根據(jù)不同的材料，磁力特性有時(shí)會(huì)因勵(lì)磁時(shí)間及勵(lì)磁歷史而發(fā)生變化，與試樣溫度無(wú)關(guān)。追加選配件的連續(xù)測(cè)量功能SY-811后，可觀測(cè)MAX 99,999min(約70天)的磁力特性每1[min]的時(shí)間變化。如果磁力特性在每次測(cè)量時(shí)都會(huì)發(fā)生較大變化，則建議通過(guò)SY-811執(zhí)行連續(xù)測(cè)量，確認(rèn)磁力特性是否會(huì)因勵(lì)磁時(shí)間而發(fā)生時(shí)間變化。