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MP工具箱 | Zetasizer電位測(cè)試結(jié)果解釋

來(lái)源:馬爾文帕納科   2024年12月03日 10:49  


馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的Zeta電位測(cè)試報(bào)告中的的參數(shù)都有哪些,分別代表了什么含義?本文將逐一解釋。







如下圖所示,Zetasizer的電位測(cè)試報(bào)告的形式分為三個(gè)部分:

  1. Sample Detail 樣品細(xì)節(jié)

  2. Phase Plot 相位圖及Zeta Potential Distribution Zeta電位分布圖

  3. Statistics Table 測(cè)試結(jié)果統(tǒng)計(jì)表


圖片

01Sample Detail

在粒度測(cè)試報(bào)告Sample Detail區(qū)域中,加粗的參數(shù)含義如下:

  • Sample Name:樣品名稱(chēng)

  • Project Name:項(xiàng)目名稱(chēng)

  • Date and Time:測(cè)試時(shí)間

  • Type:測(cè)試類(lèi)型 

  • Result Source:結(jié)果來(lái)源

  • Cell Name:樣品池名稱(chēng) 

  • Temperature(℃):測(cè)試溫度

  • Material Name:材料名稱(chēng) 

  • Dispersant Name:分散劑名稱(chēng)

  • Material RI:材料折射率 

  • Dispersant RI:分散劑折射率

  • Material Absorption: 材料吸收率 

  • Dispersant Viscosity(cP):分散劑粘度

  • Dispersant Dielectric Contant:分散劑介電常數(shù)

備注:樣品的折射率和吸收率,一般選默認(rèn),不參與計(jì)算。但當(dāng)樣本非常小或脆弱,例如蛋白質(zhì),建議勾選“Is sample small?”,系統(tǒng)將修改 Zeta 電位測(cè)量設(shè)置,以盡量減少加熱和測(cè)量持續(xù)時(shí)間。分散介質(zhì)在對(duì)應(yīng)溫度下的折射率,粘度值以及介電常數(shù)需要準(zhǔn)確輸入。



02Zeta Potential Distribution

在Zeta Potential Distribution的區(qū)域,顯示的兩張圖分別是:

  • Phase Plot 相位圖

    ?測(cè)量節(jié)拍頻率與參考頻率之間的相位差隨時(shí)間變化的曲線圖,相位圖是Zeta電位的原始數(shù)據(jù)

    ?通過(guò)FFR快速電場(chǎng)獲得Zeta Potential,即平均電位 ;通過(guò)SFR慢速電場(chǎng)獲得Zeta電位分布圖

  • Zeta電位分布圖

    有幾種情況不給出Zeta電位分布圖

    ?當(dāng)分析模式為“Auto mode”(默認(rèn)設(shè)置),且樣品電導(dǎo)率超過(guò)5 mS/cm;

    ?當(dāng)分析模式手動(dòng)修改為“Monomodal”(需手動(dòng)修改);

    ?當(dāng)“Material”選擇為“蛋白質(zhì)”,分析模式自動(dòng)變?yōu)椤癕onomodal”



03Statistics Table

在Statistics Table區(qū)域,表格中的參數(shù)分別表達(dá):

  • Zeta Potential:Zeta電位平均值

  • Conductivity:樣品電導(dǎo)率。與體系中離子強(qiáng)度相關(guān),儀器默認(rèn)當(dāng)導(dǎo)電率>5mS/cm時(shí)自動(dòng)運(yùn)行僅快場(chǎng)模式,無(wú)電位分布;該值還能用來(lái)判斷稀釋時(shí)體系是否發(fā)生變化

  • Attenuator:測(cè)試過(guò)程中,使用的衰減器編號(hào)

  • Quality Factor: 質(zhì)量因子,在快場(chǎng)測(cè)試階段,從相位分析派生的噪聲信號(hào)參數(shù),>1表示數(shù)據(jù)質(zhì)量合格

  • Zeta Peak 1 Mean: 峰1的平均Zeta電位值

  • Number of Zeta Runs:測(cè)量中實(shí)際子運(yùn)行數(shù),取決于數(shù)據(jù)質(zhì)量(非手動(dòng)限制時(shí))

備注:一般情況下,Zeta電位和電導(dǎo)率是儀器測(cè)量的最重要的數(shù)據(jù)。




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