FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD®是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及經(jīng)行痕量分析。其配備了高精度、可編程運行的 X/Y 軸工作臺,是全自動測量樣品的理想設(shè)備。
XDV-SDD設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器。它配備了高精度、可編程運行的X/Y軸工作臺和馬達(dá)驅(qū)動的Z軸升降臺。當(dāng)具有防護(hù)功能的測量門開啟時,樣品臺能自動移出到放置樣品的位置。通過激光點,可以快速對準(zhǔn)需要測量的位置。儀器內(nèi)置帶有圖像放大及十字線功能的視頻系統(tǒng),簡化了樣品放置的過程,并可對測量點位置進(jìn)行精確微調(diào)。
所有的儀器操作,以及測量數(shù)據(jù)的計算和測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示,都可以通過功能強(qiáng)大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成。
菲希爾X射線FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD特點:
XDV-SDD最多可同時測定從鋁(13)到鈾(92)中的24 種元素
測量門向上開啟的臺式儀器,側(cè)面開槽設(shè)計
馬達(dá)驅(qū)動、可編程運行的 X/Y 軸工作和 Z 軸升降臺
馬達(dá)驅(qū)動、可切換的準(zhǔn)直器和基本濾片。
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