波束采樣器
400-700納米高分辨率涂層
不同厚度的直徑
不同厚度的直徑
波束采樣器用于通過使用未涂布表面的菲涅耳反射來提取光束樣品。波束采樣器用于監(jiān)測必須盡量減少傳輸波束擾動的應(yīng)用。背面是楔形的,以避免內(nèi)部條紋和防反射涂布去除幽靈圖像。定制尺寸和防反射涂料可根據(jù)特殊要求提供。
物質(zhì)的 | : | BK7或等效和熔熔二氧化硅 |
表面質(zhì)量 | : | 40 - 20 ( scratch-dig ) |
尺寸公差 | : | +0.00, -0.2 nm |
厚 | : | ± 0.2 mm |
透明孔徑 | : | 90 % |
表面平坦度 | : | λ / 4 @ 632.8 nm |
Reflectance, R 平均值 | : | 5% @ 45° |
楔形物 | : | 30+10弧分 |
覆蓋的 | : | 正面:-無涂層 Back surface :- anti-reflection @ 400 - 700nm |
型號編號 | 直徑(毫米) | 厚度(毫米) | 物質(zhì)的 | Price ($) |
HO-BS-N-12.5 | 12.5 | 3 | BK7或相當(dāng)?shù)?/span> | 29.00 |
HO-BS-F-12.5 | 12.5 | 3 | 二氧化硅 | 42.00 |
HO-BS-N-25 | 25 | 5 | BK7或相當(dāng)?shù)?/span> | 49.00 |
HO-BS-F-25 | 25 | 5 | 二氧化硅 | 84.00 |
HO-BS-N-50 | 50 | 8 | BK7或相當(dāng)?shù)?/span> | 80.00 |
HO-BS-F-50 | 50 | 8 | 二氧化硅 | 187.00 |
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