什么設(shè)備可以用來測量薄膜

來源：深圳市秋山貿(mào)易有限公司 2025年02月10日 17:55

日本山文的測厚儀可用于測量薄膜
輕松快速地離線測量厚度

測量數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示在屏幕上

測量厚度	0.03～3毫米
測量長度	10～10000毫米
測量間距	1毫米～
最小表示値	0.5微米
測定圧	0.6±0.1 N
電源電圧	AC100～240V 50/60Hz
使用溫度範(fàn)囲	5～40℃
濕度	35～80%（無結(jié)露）
消費(fèi)電力	50 VA（不包括電腦）
選項(xiàng)	·卷筒紙打印機(jī)輸出功能 ?0.1毫米間距測量功能 ·連續(xù)測量功能 ?各特殊測定子 ·圖像傳輸功能 ·座椅支撐機(jī)構(gòu) ·輸送速度顯示

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