揭秘顆粒表征方法的LOD

檢測限 (LOD, Limit of Detection) 是指分析方法能夠可靠檢測到的最小物質(zhì)濃度或數(shù)量，代表著方法的靈敏度。對于藥物遞送和納米載藥系統(tǒng)，準(zhǔn)確報告LOD不僅幫助確定檢測方法的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性，還關(guān)系到低濃度顆粒的檢測、監(jiān)管合規(guī)性（進(jìn)行藥品申報或質(zhì)量控制時，監(jiān)管機(jī)構(gòu)如FDA、EMA等通常要求詳細(xì)報告顆粒表征方法的LOD）、方法驗證，以及科研成果的可信度。

電阻脈沖感應(yīng)（RPS) 方法可以表示確定的LOD

電阻脈沖感應(yīng)（RPS，Resistive Pulse Sensing）方法在納米顆粒的粒徑和濃度表征中均可以給出確定的LOD。RPS通過檢測單個顆粒通過微孔時引起的電阻變化來測量顆粒的尺寸和數(shù)量。因為它是單顆粒檢測方法，RPS在某些條件下可以提供非常低的檢測限，尤其適合檢測稀釋樣品中的低濃度顆粒。LOD通常與微孔或納米孔的大小和樣品中的噪聲水平相關(guān)聯(lián)。

依賴孔徑大?。?/p>

LOD通常與微孔的大小和樣品中的噪聲水平相關(guān)聯(lián)。較小的孔徑可以檢測到較小的顆粒，但同時也可能增加背景噪聲，從而影響LOD的準(zhǔn)確性。

依賴噪聲水平：

樣品的電導(dǎo)性、孔道的表面特性以及背景電流的穩(wěn)定性都會影響檢測限。如果背景噪聲低，RPS可以檢測到非常小且低濃度的顆粒，從而實(shí)現(xiàn)較低的LOD。

一般來說，如果在RPS測試實(shí)驗中能夠?qū)Ρ尘霸肼曔M(jìn)行良好控制，并選擇合適的孔徑和測量條件，那么可以實(shí)現(xiàn)較低的LOD。這使得RPS技術(shù)在某些領(lǐng)域（如檢測稀釋的生物顆?；蚣{米顆粒）中具有顯著優(yōu)勢。

瑞芯智造NanoCoulter納米庫爾特粒度儀作為RPS技術(shù)應(yīng)用，打破光學(xué)原理的局限性，經(jīng)過十余年微納加工技術(shù)沉淀，shou創(chuàng)光刻硅基固體納米孔芯片，將經(jīng)典庫爾特技術(shù)的粒徑檢測范圍從微米級下探至納米級。同時依賴高靈敏皮安級電流檢測和信號噪音的分析處理可精準(zhǔn)降噪分析每個過孔顆粒，真正意義上的單顆粒檢測，可精確分析粒徑分布廣的多分散樣本，具備更寬的粒徑LOD (15-2000 nm) 和極寬的濃度LOD (10⁶-10¹² particles/mL)。