FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列作為一款應用廣泛的能量色散型 X 射線儀器,專為超薄鍍層測量與微含量分析設計,是質(zhì)量控制、質(zhì)量檢驗及生產(chǎn)監(jiān)控場景下的理想測量工具。該系列儀器采用界面友好的臺式設計,依據(jù)不同使用需求推出了多種版本。
型號特點
XDLM 231 型:配備固定式工作臺,搭配馬達驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng),操作穩(wěn)定便捷。
XDLM 232 型:搭載可手動操控的 X/Y 工作臺,同樣具備馬達驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng),適用于多樣化樣品測量需求。
XDLM 237 型:擁有馬達驅(qū)動的 X/Y 工作臺,當保護門開啟時,工作臺會自動移動至樣品放置位置,極大提升操作效率;此外,還配備馬達驅(qū)動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng),為精準測量提供更多可能。
儀器參數(shù)
測量組件:配備 4 個可切換準直器與 3 種可切換基本濾片,采用比例接收器,測量距離可達 0 - 80mm。
圖像系統(tǒng):采用高分辨率的 CCD 彩色攝像頭,確保測量過程清晰可視。
重量規(guī)格:儀器重量在 100kg - 120kg 區(qū)間。
使用要求
環(huán)境條件:工作溫度范圍為 10℃ - 40℃,空氣相對濕度需控制在≤95% 且無結(jié)露現(xiàn)象。
計算機適配:需搭配帶擴展卡的計算機系統(tǒng),以保障儀器與計算機的高效協(xié)同工作。
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