菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237 X射線測厚儀信息

來源：無錫駿展儀器有限責任公司 2025年07月30日 15:19

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237硬件配置

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237典型的應用領(lǐng)域有：

• 分析小于的超薄鍍層

• 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

• 測定復雜的多鍍層系統(tǒng)

• 全自動測量，如在質(zhì)量控制領(lǐng)域

• 分析焊錫中鉛含量

• 配備可選的 SDD 探測器：可測量鎳磷中的磷含量

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237 X射線測厚儀信息

設(shè)計用途：能量色散X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)，分析合金和微量組分。

形式設(shè)計：臺式儀器，測量門向上開啟可編程的工作臺和電調(diào)的軸馬達驅(qū)動的可更換的準直器和基本濾片

視頻攝像頭和激光點（類）定位測量點。

測量方向：從上到下。

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