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礦石成分檢測儀的核心原理基于X射線熒光光譜分析。當高能X射線照射到礦石樣品上時，樣品中的原子吸收能量并躍遷至激發(fā)態(tài)，隨后回落到低能級時釋放出特征X射線。這些特征X射線的能量和強度與元素的種類和含量直接相關(guān)，通過探測器收集并分析這些信號，即可確定礦石中的元素組成。部分設(shè)備結(jié)合經(jīng)驗系數(shù)法與基本參數(shù)法(FP法)，進一步提升檢測精度和適應(yīng)性。
礦石成分檢測儀設(shè)備類型介紹：
手持式礦石分析儀：
特點：便攜性強，適合野外現(xiàn)場檢測；操作簡單，可快速獲取結(jié)果。
應(yīng)用：巖芯檢測、礦脈追蹤、品位快速評估等。
示例：Vanta系列手持式XRF光譜儀，可檢測從鎂到鈾的多種元素，精度達0.001%。
臺式礦石分析儀：
特點：檢測精度高，適合實驗室環(huán)境；功能全面，可分析復雜樣品。
應(yīng)用：礦石成分深入研究、標準樣品制備、科研數(shù)據(jù)分析等。
示例：EDX系列能量色散X射線熒光光譜儀，支持多元素同步測量，適用于固體、粉體及液態(tài)樣品。
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