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微納米粉體的比表面及孔徑分布的測(cè)試與分析
2013年4月2日下午14:30,北京精微高博公司將與大家分享比表面及孔徑分析的相關(guān)知識(shí),題為“微納米粉體的比表面及孔徑分布的測(cè)試與分析”,詳情請(qǐng)參考:http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/712?ref=1.hp.18.4|1.hp.2.22
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中國(guó)微納米粉體表面特性測(cè)試技術(shù)的*和者—北京精微高博科技,是國(guó)家認(rèn)定的*企業(yè),是中國(guó)zui早專(zhuān)業(yè)從事比表面積儀、比表面及孔徑分析儀、真密度儀等表界面物性分析儀的生產(chǎn)廠家,連續(xù)九年國(guó)內(nèi)銷(xiāo)售額和市場(chǎng)綜合占有率遙遙,較國(guó)內(nèi)同類(lèi)儀器測(cè)試精度更高,重復(fù)性更好,在微孔分析方面,*。
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