直讀光譜與XRF的異同

1、兩者的測(cè)試原理不同：直讀光譜儀是用電弧（火花）的高溫使樣品中各種元素從固態(tài)直接氣化并被激發(fā)而射出各元素的特征波長，經(jīng)光柵分光后，成為按波長排列的“光譜”，這些元素的特征光譜線通過出射狹縫，射入各自的光電倍增管，光信號(hào)變成電信號(hào)，經(jīng)儀器的控制測(cè)量系統(tǒng)將電信號(hào)積分并進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換，然后由計(jì)算機(jī)處理，并計(jì)算出各元素的百分含量。X熒光光譜儀用X射線照射試樣，試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測(cè)量不同波長（或能量）的X射線的強(qiáng)度，以進(jìn)行定性和定量分析。由于X光具有一定波長，同時(shí)又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。

2、直讀光譜儀要求試樣具有導(dǎo)電性，且只能是固體樣品，簡(jiǎn)單地說就是直讀只能分析金屬固體樣品中的元素。而X射線熒光光譜儀對(duì)樣品要求不高，可以分析粉末樣品、固體樣品、液體樣品，不需要樣品具有導(dǎo)電性，金屬及非金屬樣品均可分析，XRF還可量測(cè)鹵素，用于測(cè)試RoHS中管制的元素分析，可以看出X熒光光譜儀適用范圍更廣，適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)。

3、直讀激發(fā)測(cè)試完樣品之后會(huì)破壞樣品表面，X熒光是無損檢測(cè)，測(cè)試完成后樣品不會(huì)發(fā)生變化。