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雙晶直探頭設(shè)計與定制

來源:上海易啟檢測技術(shù)有限公司   2016年01月16日 14:16  

       縱波雙晶直探頭由兩個縱波探頭組合而成,兩個晶片之間有一個吸聲性強、絕緣性好的隔聲層,將發(fā)射電路和接收電路分割開來,從而克服了發(fā)射聲波和回波的相互干擾和阻塞,使脈沖變窄,分辨力提高,還消除了發(fā)射晶片和延遲塊之間的反射雜波進入接收晶片,從而減少了雜波。雙晶探頭常用于薄壁材料的腐蝕,點蝕和厚度測量。超薄件檢測時,一個很好的近表面分辨率是必要的。縱波雙晶直探頭具有聚焦能力,近表面盲區(qū)小,檢測精度高。


雙晶直探頭特點

  • 合理聲匹配疊層設(shè)計,靈敏度更高,性噪比更高
  • 晶片大小、形狀、焦距均可按需設(shè)計,滿足各種檢測需求
  • 相比單晶斜探頭,具備更高的近場信噪比

 

雙晶直探頭定制:

  • 加裝有機玻璃楔塊/耐高溫材料楔塊
  • 用于粗糙表面的聚氨酯可更換膜
  • 干燥耦合的應(yīng)用的硅橡膠楔塊
  • 不同阻尼設(shè)計可用于特定測量
  • 填充耦合劑的軟保護膜

 

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