Mentor UT 美國GE新款超聲波相控陣探傷儀

美國GE新款超聲波相控陣探傷儀Mentor UT

                                    --便攜超聲C掃描腐蝕檢測

 基于App的腐蝕檢測設(shè)備

u 大面積C掃檢測降低局部抽檢帶來的漏檢風(fēng)險

u 通過圖像直觀顯示內(nèi)部腐蝕輪廓

u 自動找出嚴重腐蝕點

u 強大的32/32雙晶相控陣

u A掃描波形全部記錄

u 有常規(guī)超聲檢測通道

u IP 65 防護等級

u 18 kHz 脈沖重復(fù)頻率

u 超高分辨率，強烈日照下可用觸摸屏

u 便攜設(shè)備僅6.5 磅(2.9 kg)

u 無線信號連接

u 可創(chuàng)建自己的Apps以及亦可使用設(shè)備預(yù)裝的Apps

u 基于客戶自定義的Apps以及人機界面，可減少培訓(xùn)支出

u 基于內(nèi)置的數(shù)據(jù)分析和數(shù)據(jù)輸出報告

Mentor UT

l 強大的32/32相控陣探傷儀

l 帶有常規(guī)超聲通道

l 18KHz脈沖重復(fù)頻率（PRF）

l IP65防護等級

l 可戴手套操作、且可以自定義的觸摸屏用戶界面面

Mentor UT

用于腐蝕成像。Mentor UT通過直觀、觸摸屏以及客戶自定義的檢測計劃把相控陣的強大功能應(yīng)用于日常檢測。通過向?qū)?、機載向?qū)皆O(shè)置和校準提高您的檢測效率。

現(xiàn)在您可擁有一個腐蝕檢測App

如果腐蝕檢測就像您使用手機里面的App一樣簡單？如果您可以根據(jù)不同的檢測任務(wù)在您的檢測設(shè)備中自定義用戶界面？Mentor UT把今天高級的軟件技術(shù)結(jié)合優(yōu)異的超聲性能帶給客戶全新的檢測體驗。復(fù)雜的檢測變成點擊屏幕上的菜單一樣簡單。您可使用GE隨機自帶的App進行腐蝕檢測，也可以使用GE提供的桌面軟件Mentor Create去創(chuàng)建屬于您自己的檢測流程。

降低新檢測人員的培訓(xùn)費用

對于那些一直努力維持檢測專家隊伍穩(wěn)定的NDT來說，Mentor UT可以非常快速和容易的培訓(xùn)檢測人員進行UT檢測。屏幕上菜單從檢測的每一步引導(dǎo)著檢測人員，從探頭選擇到校準直至進行檢測和輸出檢測報告。儀器耐用、白天可讀的觸摸屏讓導(dǎo)向更加容易和直觀。檢測規(guī)程、培訓(xùn)文檔、圖片和參照向?qū)Ф寄軌蛞詧D片、視頻或者參考向?qū)У姆绞皆诂F(xiàn)場檢測中快速呈現(xiàn)。

客戶自定義工作流程

自動探頭自檢

向?qū)叫?/span>

腐蝕掃查非常便利

提高檢測效率

Mentor UT不僅僅是*的軟件。其結(jié)合了帶常規(guī)通道的、強大的32/32相控陣探傷儀，您可以快速在相控陣檢測和常規(guī)檢測中切換。

采用探頭自動識別和向?qū)гO(shè)置，避免探頭選擇及校準中的錯誤。

Mentor UT研發(fā)過程中貫徹著高品質(zhì)和高精度原則、兼容著您期盼的GE DM腐蝕探頭，IP65的防護等級讓其能在惡劣環(huán)境中工作。帶有A掃描數(shù)據(jù)的存儲和報告功能，能很方便的在檢測之后提供數(shù)據(jù)分析和出具檢測報告。

適合現(xiàn)場的盒子

拿著已經(jīng)嵌入探頭工具包的檢測設(shè)置的App就可以工作，這些App已經(jīng)安裝在Mentor UT設(shè)備中。

并且客戶還可以選擇自己喜歡的商業(yè)腐蝕掃查器。

需要為一個特殊應(yīng)用創(chuàng)建自定義的檢測流程？

你可以采用Mentor Create軟件去設(shè)計和自定義檢測的workflows以及自定義用戶界面滿足你*的應(yīng)用。

美國GE新款超聲波相控陣探傷儀Mentor UT

技術(shù)規(guī)格：

深圳市泰立儀器儀表有限公司 - 代理許多國際*的高科技儀器和設(shè)備，其中尤以無損檢測和金相理化設(shè)備為主。包括：超聲、渦流、漏磁、磁粉、射線、金相制樣、光譜等等。

材料檢測為產(chǎn)品質(zhì)量提供了可靠的保證，同時增加了附加成本。但從另一角度考慮這一附加成本，質(zhì)量保證確實對節(jié)約潛在成本提供了有價值的代價。按優(yōu)化的生產(chǎn)流程您可以獲得幾個關(guān)鍵性的好處，提高生產(chǎn)效率，降低失效的危險性，同時延長設(shè)備的使用壽命。

無損檢測

涂層測厚儀  |  超聲波測厚儀   |  UT探傷儀   |  UT/PA 相控陣探傷儀  |   水浸C掃描系統(tǒng)    |  便攜式渦流探傷儀  |  渦流探傷系統(tǒng)  |  x射線成像系統(tǒng)  |  工業(yè)x射線機   |  x光探傷機   |  x光洗片機   |  工業(yè)x射線實時成像檢測系統(tǒng)  |  數(shù)碼成像系統(tǒng)   |  自動洗片機   |  電導(dǎo)率測量儀   |  磁粉探傷機   |  移動式磁粉探傷機 |  德國db   |  以色列scanmaster  |  德國tiede  |  意大利寶石隆 

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特殊探頭能為您解決特殊檢測問題

如果您正有一個檢測難題需要解決，而標準探頭不能解決您的問題，那么您需要讀讀這本小冊子。這里介紹的是已經(jīng)在許多超聲檢測領(lǐng)域獲得成功應(yīng)用的特殊探頭，它們都已經(jīng)通過檢測驗證，得到用戶的肯定, 并且可以根據(jù)客戶需要定制。其中必有一種能解決您的檢測問題。

由于我們特殊探頭的范圍非常廣，我們需要把同類型的探頭歸類在一起，從產(chǎn)品型號的編號上對探頭歸類（例如B2S-0A）。在這種情況下，為了選擇合適的探頭，您必須要對檢測任務(wù)有詳細的了解。

好的解決方案是您能發(fā)給我們檢測物件的圖紙，上面標有探頭位置，缺陷位置，可能需要的頻率等。如果您在這本冊子里沒有找到與您的檢測問題相關(guān)的信息，也請把你的詳細需求發(fā)給我們，我們的探頭及應(yīng)用專家將很樂意為您尋求佳解決方案并為您提供合適的探頭。

特殊探頭能為您解決特殊檢測問題

① RB…,MRB…型

用于管道周向檢測的斜探頭，能夠同時從兩個周向檢測管道的。Lemo00接頭。

② IR…型

從管道內(nèi)部檢測缺陷或測量厚度。

③ Z4R6X6/6X

多晶片探頭—4MHz，6個6x6mm晶片水浸探頭，帶2.5m探頭線。我們也能提供其他

頻率，晶片尺寸和晶片數(shù)量的探頭，相應(yīng)的多晶片斜探頭可以用來檢測橫向缺陷。

④ IALF10…型

10MHz水浸探頭，園柱曲面，晶片寬30mm，由PVDF材料制成，帶1.5m

Lemo1接口探頭線。可提供其他頻率和晶片尺寸的探頭。

鐵軌檢測探頭

① SESZS…型

4MHz雙 晶 直 探 頭 ， 0.95m探 頭 線 ，Lemo接頭。

② SESZW…型

雙晶斜探頭，聲束同時向前，向后70º入射，2MHz，帶0.75m探頭線，Lemo1接頭。

③ WB45-01型

45º斜探頭，1MHz，頂端帶Lemo1接頭；套在夾具上組成前后串聯(lián)式檢測鐵軌。

注釋:

SESZS…型和SESZW…型都適用于鐵軌檢測系統(tǒng)自動檢測。用于坯餅檢測時請參

考第6頁，板坯檢測。關(guān)于其他的檢測問題，請聯(lián)系我們的專業(yè)技術(shù)人員。

用于軸承和輪軸

① B2S-0A…型

1MHz，2MHZ，4MHZ斜探頭，晶片直徑24mm，可更換保護膜。通過不同角度延

遲塊得到7º 14º 21º 28º 縱波斜探頭。頂部Lemo1接頭。尤其適用于檢測大軸承偏

心位置的體積型缺陷。

② AW…型

斜探頭，延遲塊可更換，2MHZ，晶片直徑24mm，Lemo1接頭；適用于橫波探

傷，探頭接觸面可與曲面耦合。

③ ASW…型

斜探頭，用橫波檢測輪軸中心孔，帶有2m探頭線，Lemo1插頭一個。

④ B…S, MB…S

直探頭，可提供各種頻率，晶片直徑為10mm和24mm，帶延遲塊。B…S型為

Lemo1接頭，MB…S探頭為Lemo00接頭。

⑤ Z2GB1, Z4NB5

帶延遲塊的縱波斜探頭，專為電梯軸承檢測設(shè)計，與Lemo 00插頭匹配。

注釋:

對于粗晶材料(由于晶粒散射而導(dǎo)致信噪比差)，請參照第15頁“粗晶結(jié)構(gòu)材料

的檢測”。關(guān)于特大軸承檢測請參照第6頁“大型部件檢測”。

用于板坯

① SEZ4R10…型

雙晶4MHz探頭，聲束寬度約為50mm，由一個發(fā)射晶片和3個接收晶片組成，一根探頭線，帶有4個Lemo1接頭。

① 5Z6X27ND型

雙晶5MHZ探頭，聲束寬度約為25mm，帶Lemo1接頭的探頭線，尤其適合板材邊緣檢測。

② B…S-O型

提供各種頻率的直探頭，可更換保護膜，頂部Lemo1接頭。例如用于檢測平板輥筒。

③ SEZ4N30V，SEB4TV型

4MHz雙晶探頭，2.5m帶Lemo1接頭探頭線一根，即使在不斷升高的溫度下也適用于檢測平板輥筒。

④ UWB…

1 MHz，2 MHz或4 MHz入射角可調(diào)斜探頭，可以得到縱波和橫波，配有Lemo1接

口，用于產(chǎn)生蘭姆波。

用于大型部件

① NQP…型

用 于 直 接 接 觸 法 的 聚 焦 直 探 頭 ，2MHZ，晶片直徑34mm，50mm，或

75mm，深度越深處，焦點直徑越小，Lemo1接頭。尤其適用于各個方向的相

鄰缺陷。

② WQP…型

聚 焦 斜 探 頭 ， 晶 片 直 徑 3 4 m m ，50mm，或75mm，深度越深處，焦點直徑越小，Lemo1接頭。

③ SEB…G型

雙晶探頭，1 MHz 或 2 MHz， 大晶片，深度聚焦，Lemo 00接頭。

④ GRST…型

相控陣探頭，聲束焦點和角度可變，可用于自動檢測系統(tǒng)。