Microtrac S3500系列激光粒度分析儀
- 公司名稱 廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/7/18 12:15:09
- 訪問次數(shù) 4650
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廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司成立于2010年8月，是國家高業(yè)，廣州科技小巨人企業(yè)，并在廣東股權(quán)交易中心成功掛牌（股權(quán)代碼：892081），通過ISO9001-2015質(zhì)量體系認證和知識產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)認定體系，擁有近20項國家磚利。貝拓科學(xué)一直從事光譜分析儀器領(lǐng)域，自主研發(fā)儀器有光學(xué)接觸角測量儀，顯微拉曼光譜儀，表界面張力儀，白光干涉膜厚分析儀，陣列式紫外可見分光光度計，積分球式透反射率測試儀等。具備光學(xué)設(shè)計、機械設(shè)計、軟件編寫和算法編寫核心能力，和中山大學(xué)、廣州大學(xué)、華南師范大學(xué)有緊密的合作關(guān)系，并且是廣州大學(xué)物理與光電學(xué)院的長期實習(xí)基地。貝拓科學(xué)所研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)品定位在國內(nèi)高水平，未來面向市場。
貝拓科學(xué)陪伴著科學(xué)家一起探索未知事件，“Touch the future”作為我們的口號，貝拓科學(xué)尊重以嚴謹?shù)目茖W(xué)理論為指導(dǎo)，為科學(xué)家提供有力的科研工具。我們默默堅持做前沿分析儀器的搬運工，陪伴科學(xué)家不斷成長。我們很榮幸作為一些有儀器生產(chǎn)廠家，例如：日本Hitachi，德國WITec,德國Bruker，英國OXFORD，美國ThermoFisher,Ametek旗下輸力強和普林斯頓,以及中國臺灣OtO等大電子儀器廠家的代理，一起為中國的科學(xué)家提供專業(yè)的服務(wù)。
我們的宗旨是為科學(xué)學(xué)提供更專業(yè)，更貼心的服務(wù)。
我們的優(yōu)勢和專注點集中于材料測試方面，為了普惠科研工作者，我們還提供測試服務(wù)，其中包括材料的結(jié)構(gòu)、元素分布、表面特征、物理化學(xué)特性以及光學(xué)、電學(xué)特性的分析。
材料分析領(lǐng)域代理品牌：
OXFORD（牛津）、FEI（賽默飛）、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI（日立）、OTO（中國臺灣超微光學(xué)）、WITec（威泰克）、BRUKER（布魯克）、普析、徠卡、本原納米等。
接觸角測量儀、在線測厚儀、光學(xué)膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 分散方式 | 干法分散 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 顆粒圖像分析儀 |
Microtrac S3500系列激光粒度分析儀
美國Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析儀，原理上采用經(jīng)典靜態(tài)光散射技術(shù)和全程米氏理論處理，利用現(xiàn)代模塊式設(shè)計理念，使用獲得的三激光光源技術(shù)，配備超大角度雙鏡頭檢測系統(tǒng)，以對數(shù)方式排列151個高靈敏度檢測單元，無需掃描，平行通道實時接受散射光信息，提供準確可靠的測量信息。多種分散方式可選，干法與濕法測量之間的轉(zhuǎn)換，系統(tǒng)自動識別，方便快捷。S3500系列儀器*符合ISO 13320-1粒度分析－激光衍射方法的技術(shù)標(biāo)準及21 CFR PART 11 安全要求，并被榮幸地為NIST標(biāo)準物質(zhì)認證儀器。
Microtrac S3500系列激光粒度分析儀
Microtrac S3500系列產(chǎn)品
藍波2型(BWDL)):濕法測量范圍：0.01-2,800μm；干法測量范圍：0.25-2,800μm
藍波1型(BWSL)):濕法測量范圍：0.01-2,000μm；干法測量范圍：0.25-2,000μm
增強型(Enhanced):濕法測量范圍：0.02-2,800μm；干法測量范圍：0.25-2,800μm
擴展型(eXtended):濕法測量范圍：0.02-2,000μm；干法測量范圍：0.25-2,000μm
特殊型(speciaL) : 濕法測量范圍：0.09-1,500μm；干法測量范圍：0.25-1,500μm
標(biāo)準型(Standard):濕法測量范圍：0.25-1,500μm；干法測量范圍：0.25-1,500μm
高端型(High) : 濕法測量范圍：2.75-2,800μm；干法測量范圍：2.75-2,800μm
基本型(Basic) : 濕法測量范圍：0.70-1,000μm；干法測量范圍：0.70-1,000μm
技術(shù)參數(shù)：
﹡ 測量范圍:0.01μm-2,800μm; 測量精度:0.6%; 測量時間:10-30 秒; 所需樣品量:0.05-2g;
兼容性:與任何常用有機溶劑兼容
﹡ 光源: 三束3mW 780nm固體二極管激光器, 電腦控制自動校準; 準直功能:電腦控制自動對光;
光路:固定光學(xué)平臺,傅利葉光路結(jié)合雙透鏡技術(shù)
﹡ 接受角度:0.02-163°; 檢測器:高靈敏硅光電二極管; 檢測器數(shù)量:151個對數(shù)方式優(yōu)化排列
﹡ 操作靈活:兼容 Windows 98, 2000, NT和XP等操作系統(tǒng); 報告格式:體積,數(shù)量和面積分布,包
括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)以O(shè)DBC形式輸出兼容其他統(tǒng)計分析軟件和文字
處理軟件; 安全性:數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11 安全要求
﹡ 環(huán)境要求:溫度10-35℃; 相對濕度:小于90%; 電源要求:90-240 VAC, 5A, 50/60Hz; 主機
尺寸:高度33cm, 寬度55.9cm, 深度37.5cm, 重量25Kg
﹡ 標(biāo)準化:符合ISO 13320-1 激光粒度分析國際標(biāo)準
﹡ 完整配置:固定光學(xué)平臺, 樣品分散系統(tǒng), 計算機/打印機, 數(shù)據(jù)處理軟件
主要特點：
﹡ Tri-Laser激光系統(tǒng), *消除了不同波長光源對顆粒散射光分布“連接點”的影響和
多次米氏理論（Mie Theory）數(shù)學(xué)處理的誤差（米氏理論處理與波長有關(guān)）。
﹡ “Bluewave”激光技術(shù)，拓展測量下限至0.01μm。
﹡ 無需掃描，同步接受全量程散射光信號，保證分
析結(jié)果的高重現(xiàn)性及全量程范圍的高分辨率。
﹡ 家引進“非球形”顆粒概念對米氏理論計算的校正因子，內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫，
提高顆粒粒度分布測試的準確性。
﹡ 系統(tǒng)自動對光，內(nèi)置輔助光源用于檢驗和校正檢測器的靈敏度。
﹡ 多種樣品分散系統(tǒng)可供選擇，各種分散系統(tǒng)之間的轉(zhuǎn)換簡單方便，結(jié)果穩(wěn)定*。
﹡ 現(xiàn)代模塊式設(shè)計，可根據(jù)實際應(yīng)用需要允許選擇儀器的配置，以滿足將來的任何需要。
﹡ 數(shù)據(jù)處理靈活方便，體積分布，數(shù)量分布和強度分布，微分與累計百分比以及其他綜合報告
形式任意組合，數(shù)據(jù)存儲兼容性強。
﹡ NIST(National Institute of Standards & Technology)標(biāo)準物質(zhì)認證儀器。
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