TOFD-A/B/C/D/E 超聲波對(duì)比試塊無損探傷試塊

超聲波對(duì)比試塊無損探傷試塊

一、首先檢測(cè)前需要對(duì)檢測(cè)靈敏度進(jìn)行確定，確定的方法一般應(yīng)采用對(duì)比試塊來進(jìn)行。

根據(jù)NB 47013.10 衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)要求：

1.當(dāng)采用對(duì)比試塊上的反射體設(shè)置靈敏度時(shí)，需要將較弱的衍射信號(hào)波幅設(shè)置為滿屏高的40%-80%，并在被檢工件表面掃查時(shí)進(jìn)行表面耦合補(bǔ)償。

2.當(dāng)被檢工件厚度不大于50mm且采用單通道檢測(cè)時(shí)，也可直接在被檢工件上進(jìn)行靈敏度設(shè)置，一般將直通波的波幅設(shè)置到滿屏高的40%-80%。

3.當(dāng)然也可以使用對(duì)比試塊進(jìn)行校準(zhǔn)，對(duì)于壁厚12mm≤t≤25mm的試塊，應(yīng)至少設(shè)置3個(gè)反射體，包括一個(gè)試塊表面的矩形槽，掃查面下4mm處一個(gè)2mm側(cè)孔，以及一個(gè)1/2t處尖槽或者一個(gè)側(cè)孔。（具體要求參見標(biāo)準(zhǔn)）

如果用對(duì)比試塊進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)，則需要對(duì)比試塊上較弱的缺陷信號(hào)調(diào)至40%-80%之間。

TOFD（Time of Flight Diffraction）技術(shù)是一種基于衍射信號(hào)實(shí)施檢測(cè)的技術(shù)，即衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)技術(shù)?？偟膩碚f。

二、TOFD技術(shù)有很多優(yōu)點(diǎn)：