官方微信|手機(jī)版

產(chǎn)品展廳

產(chǎn)品求購企業(yè)資訊會展

發(fā)布詢價單

化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>光學(xué)測量儀>其它光學(xué)測量儀>SE 800 PV 激光橢偏儀

分享
舉報 評價

SE 800 PV 激光橢偏儀

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 北京瑞科中儀科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 SE 800 PV
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時間 2024/7/10 8:05:26
  • 訪問次數(shù) 3331

聯(lián)系方式:汪經(jīng)理查看聯(lián)系方式

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


北京瑞科中儀科技有限公司專注半導(dǎo)體材料研究分析設(shè)備的研發(fā)和應(yīng)用。專業(yè)的團(tuán)隊,專精的服務(wù),提供理想的解決方案。

我們長期專注于半導(dǎo)體材料研究與分析設(shè)備的經(jīng)銷和代理,為高校、企業(yè)科研工作者提供專業(yè)的分析解決方案。以專業(yè)技能為導(dǎo)向,用科技來解決用戶在科研中遇到的難題。專業(yè)的技術(shù)工程師和科研工作者進(jìn)行現(xiàn)場演示和技術(shù)交流,打消顧慮,彼此協(xié)作,為我國的科研領(lǐng)域譜寫新篇章。

北京瑞科中儀科技有限公司長期代理銷售供應(yīng)多種分子材料的研究分析設(shè)備,其中包括但不限于掃描電子顯微鏡、感應(yīng)耦合等離子體化學(xué)氣相沉積系統(tǒng)、離子束刻蝕機(jī)、等離子清洗機(jī)、物理氣相沉積系統(tǒng)以及各品牌的光學(xué)顯微鏡以及實驗室設(shè)備儀器。

客戶至上的服務(wù)理念,以人為本的企業(yè)文化,我們始終為用戶提供專業(yè)的服務(wù)!

合作丨共贏,選擇我們,選擇未來!

 

半導(dǎo)體材料分析,材料刻蝕

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工,電子/電池

激光橢偏儀介紹

紋路晶片

防反射涂層和鈍化層可以在單晶和多晶硅晶片上測量。

疊層防反射涂層

可以分析SiO2/SiNx、Al2O3/SiNx和SiNx1/SiNx2的涂層。

操作簡單

不管是專家還是初學(xué)者,光譜橢偏儀SE 800 PV都提供了簡單的操作。配方模式特別適合質(zhì)量控制所需的常規(guī)應(yīng)用。

激光橢偏儀是分析結(jié)晶和多晶硅太陽能電池防反射膜的理想工具??梢詼y量單層薄膜(SiNx、SiO2、TiO2、Al2O3)和多層疊層膜(SiNX/SiO2、SiNx1/SiNx2、SiNx/Al2O3)。

SE 800 PV是基于步進(jìn)掃描分析器測量模式。步進(jìn)掃描分析器模式允許將測量參數(shù)匹配到粗糙的樣本表面,同時所有光學(xué)部件都處于靜止?fàn)顟B(tài)。SE 800 PV的光源、光學(xué)部件和檢測器進(jìn)行了優(yōu)化,以符合SENTECH的目標(biāo),即快速、準(zhǔn)確地測量PV應(yīng)用的折射率指數(shù)、吸收和膜厚。

高測量靈敏度、去偏振校正和特殊的集光光學(xué)使SE 800 PV成為在粗糙樣品表面進(jìn)行光伏應(yīng)用的理想儀器。

光譜橢偏儀SE 800 PV具有操作簡單的特點、便于研發(fā)應(yīng)用。SpectraRay/4,SENTECH專有的橢偏儀軟件,包括兩種操作模式。配方模式允許在質(zhì)量控制中輕松執(zhí)行常規(guī)應(yīng)用程序。交互模式具有指導(dǎo)性的圖形用戶界面,適合于研發(fā)應(yīng)用和新配方的開發(fā)。

此外,SE 800 PV滿足SENresearch光譜橢偏儀系列的所有要求。

Ellipsometer with table options for textured monocrystalline and multicrystalline siliconCrystalline silicon solar cell with alkaline textured surfaceSpectroscopic ellipsometer SE 800 PVComparison of SiNx film thickness on textured monocrystalline Si determined by SE and FIB analysisMeasurement on textured monocrystalline silicon








化工儀器網(wǎng)

采購商登錄
記住賬號    找回密碼
沒有賬號?免費(fèi)注冊

提示

×

*您想獲取產(chǎn)品的資料:

以上可多選,勾選其他,可自行輸入要求

個人信息:

溫馨提示

該企業(yè)已關(guān)閉在線交流功能