LJC-系列擊穿 擊穿電壓儀

1、擊穿電壓儀（絕緣材料絕緣強(qiáng)度測量機(jī)器）標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)范

GBT1408.1-2016 絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗方法第1部分：工頻下試驗

GBT1408.2-2016 絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗方法第2部分：對應(yīng)用直流電壓試驗的附加要求

IEC60060-1-2010&

GB/T16927.1-2011高電壓試驗技術(shù)第1部分：一般定義及試驗要求

IEC60060-2-2010&

GB/T16927.2-2013高電壓試驗技術(shù)第2部分：測量系統(tǒng)

JB/T9641試驗變壓器

GB1094.1～GB1094.5 電力變壓器

GB/T.311.1 高壓輸變電設(shè)備的絕緣與配合

GB/T509電力變壓器試驗導(dǎo)則

GB4208外殼防護(hù)等級

GB/T191包裝儲運圖示標(biāo)志

DL/T848.2 高壓試驗裝置通用技術(shù)條件第2部分：工頻高壓試驗裝置

GB5273變壓器、高壓電器和套管的接線端子

DL/T846.1 高電壓測試設(shè)備通用技術(shù)條件第1部分：高電壓分壓器測量系統(tǒng)

GB/T11920 電站電氣部分集中控制裝置通用技術(shù)條件

GB/T5582 高壓電力設(shè)備外絕緣污穢等級

IEC60-1高電壓試驗技術(shù)

JB/T8638調(diào)壓器試驗導(dǎo)則第一部分

JB8749調(diào)壓器的通用技術(shù)要求

JB/T7067柱式調(diào)壓器

JB/T501電力變壓器試驗導(dǎo)則

GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓的測定方法》；

ASTMD149 《固體電絕緣材料工業(yè)電源頻率下的介電擊穿電壓和介電強(qiáng)度的試驗方法》；

2、擊穿電壓儀（絕緣材料絕緣強(qiáng)度測量機(jī)器）技術(shù)要求

2.1測試原理

固體電介質(zhì)擊穿有3種形式：電擊穿、熱擊穿和電化學(xué)擊穿。

電擊穿

電擊穿是因電場使電介質(zhì)中積聚起足夠數(shù)量和能量的帶電質(zhì)點而導(dǎo)致電介質(zhì)失去絕緣性能。熱擊穿是因在電場作用下，電介質(zhì)內(nèi)部熱量積累、溫度過高而導(dǎo)致失去絕緣能力。電化學(xué)擊穿是在電場、溫度等因素作用下，電介質(zhì)發(fā)生緩慢的化學(xué)變化，性能逐漸劣化，最終喪失絕緣能力。固體電介質(zhì)的化學(xué)變化通常使其電導(dǎo)增加，這會使介質(zhì)的溫度上升，因而電化學(xué)擊穿的最終形式是熱擊穿。溫度和電壓作用時間對電擊穿的影響小，對熱擊穿和電化學(xué)擊穿的影響大；電場局部不均勻性對熱擊穿的影響小，對其他兩種影響大。

熱擊穿

當(dāng)固體電介質(zhì)承受電壓作用時，介質(zhì)損耗是電介質(zhì)發(fā)熱、溫度升高；而電介質(zhì)的電阻具有負(fù)溫度系數(shù)，所以電流進(jìn)一步增大，損耗發(fā)熱也隨之增加。電介質(zhì)的熱擊穿是由電介質(zhì)內(nèi)部的熱不平衡過程造成的。如果發(fā)熱量大于散熱量，電介質(zhì)溫度就會不斷上升，形成惡性循環(huán)，引起電介質(zhì)分解、炭化等，電氣強(qiáng)度下降，最終導(dǎo)致?lián)舸?/span>

熱擊穿的特點是：擊穿電壓隨溫度的升高而下降，擊穿電壓與散熱條件有關(guān)，如電介質(zhì)厚度大，則散熱困難，因此擊穿電壓并不隨電介質(zhì)厚度成正比增加；當(dāng)外施電壓頻率增高時，擊穿電壓將下降。

電化學(xué)擊穿

固體電介質(zhì)受到電、熱、化學(xué)和機(jī)械力的長期作用時，其物理和化學(xué)性能會發(fā)生不可逆的老化，擊穿電壓逐漸下降，長時間擊穿電壓常常只有短時擊穿電壓的幾分之一，這種絕緣擊穿成為電化學(xué)擊穿。當(dāng)加在某絕緣介質(zhì)上的電壓高于過一定程度（擊穿電壓）后，這時絕緣介質(zhì)會發(fā)生突崩潰而使其電阻迅速下降，繼而使得一部分絕緣介質(zhì)變?yōu)閷?dǎo)體。在有效的擊穿電壓下，電擊穿現(xiàn)象可以發(fā)生在固體、流體、氣體或者真空等不同的介質(zhì)中。

電樹枝（預(yù)擊穿）

在電氣工程中，樹化是固體絕緣中的一種電氣預(yù)擊穿現(xiàn)象。這是由于局部放電而造成的破壞性過程，并通過受應(yīng)力的介電絕緣層，在類似于樹枝的路徑中進(jìn)行。固體高壓電纜絕緣的樹化是地下電力電纜中常見的擊穿機(jī)制和電氣故障來源。當(dāng)干介電材料在很長一段時間內(nèi)受到高且發(fā)散的電場應(yīng)力時，首先發(fā)生并傳播電樹。觀察到電樹化起源于雜質(zhì)、氣孔、機(jī)械缺陷或?qū)щ娡黄鹪陔娊橘|(zhì)的小區(qū)域內(nèi)引起過度電場應(yīng)力的點。這可以使體電介質(zhì)內(nèi)的空隙內(nèi)的氣體電離，從而在空隙的壁之間產(chǎn)生小的放電。雜質(zhì)或缺陷甚至可能導(dǎo)致固體電介質(zhì)本身的部分擊穿。這些局部放電(PD)產(chǎn)生的紫外線和臭氧隨后與附近的電介質(zhì)發(fā)生反應(yīng)，分解并進(jìn)一步降低其絕緣能力。隨著電介質(zhì)的降解，氣體通常會釋放出來，從而產(chǎn)生新的空隙和裂縫。這些缺陷進(jìn)一步削弱了材料的介電強(qiáng)度，增強(qiáng)了電應(yīng)力，加速了PD過程。

2.2試品

如表1所示，擊穿強(qiáng)度實驗平臺可用于（1）TO封裝、（2）剛性壓接封裝、（3）彈性壓接封裝（4）焊接封裝、（5）用于實驗室測量的簡易封裝、（6）襯板、（7）子單元框架、（8）板狀絕緣材料、（9）管殼、（10）硅凝膠的擊穿強(qiáng)度測量和驗證。

表1 擊穿電壓實驗平臺測試對象