自感應(yīng)探針原子力顯微鏡(標(biāo)準(zhǔn)型)
- 公司名稱 廣州中源儀器技術(shù)有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/5/21 16:56:53
- 訪問次數(shù) 36
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
采用壓電自感應(yīng)探針的原子力顯微鏡(AFM),創(chuàng)新產(chǎn)品、品質(zhì)。實(shí)現(xiàn)形貌成像分析、譜曲線測(cè)量等功能,免激光調(diào)節(jié)、操作簡(jiǎn)單。推薦教學(xué)教育領(lǐng)域。
儀器特點(diǎn)
采用基于石英音叉的壓電自感應(yīng)探針,如Akiyama探針。
測(cè)量成像無需激光檢測(cè),操作簡(jiǎn)單,原理清晰,可快速完成實(shí)驗(yàn)。
支持頻率調(diào)制模式的形貌成像和力梯度-距離曲線等測(cè)量分析功能。
采用高精度嵌入式測(cè)控系統(tǒng),主機(jī)隔音抗震設(shè)計(jì),抗干擾能力強(qiáng)。
內(nèi)部空間足夠安裝高倍光學(xué)物鏡,方便與光學(xué)顯微鏡適配。
可通過選配模塊和擴(kuò)展接口增強(qiáng)系統(tǒng)功能。
Akiyama自感應(yīng)探針
主要技術(shù)參數(shù)
一鍵式快速自動(dòng)進(jìn)樣,行程23mm,最小步距50nm。
手動(dòng)調(diào)節(jié)樣品檢測(cè)位置,調(diào)節(jié)范圍±10.0mm。
樣品尺寸的直徑20mm,厚度20mm。
標(biāo)配管型掃描器,掃描范圍約為20μm×20μm×5μm。
樣品逐行掃描成像,掃描成像速率0.1-30行/秒。
一次掃描多幅圖像,圖像分辨高達(dá)1024×1024物理象素。
自感應(yīng)探針采用頻率調(diào)制模式,數(shù)字化PID反饋控制的響應(yīng)時(shí)間為10μs。
嵌入式測(cè)控系統(tǒng)采用主頻為450MHz的雙核處理器(ARM + DSP),內(nèi)置數(shù)?;旌辖Y(jié)構(gòu)的鎖相放大器,與上位機(jī)連接采用以太網(wǎng)TCP/IP通訊協(xié)議。
適配光學(xué)顯微鏡物鏡的最短工作距離僅需9.5毫米。
標(biāo)準(zhǔn)配置:
主控制器
主機(jī)底座及隔音罩
主機(jī)探頭及探針架(A型)
手動(dòng)樣品調(diào)節(jié)臺(tái)(調(diào)節(jié)范圍±10.0mm)
管型掃描器(掃描范圍20μm)
計(jì)算機(jī)及專用測(cè)控軟件
儀器附件
A型探針架(WinSPM A-Probe)
選配模塊:
掃描隧道顯微鏡(STM)模塊,包括:掃描隧道顯微鏡的硬件與軟件、STM探針架(WinSPM T-Probe)
納米加工模塊,包括:圖形化納米加工、機(jī)械刻蝕、矢量掃描等功能
輔助觀察光學(xué)顯微鏡系統(tǒng):物鏡倍數(shù):0.7X~4.5X;總放大倍數(shù):42-266X連續(xù)可調(diào)(14”有效顯示面積);工作距離:115mm
管型掃描器模塊:掃描范圍有8μm、20/30μm和100μm共3種規(guī)格
應(yīng)用領(lǐng)域及實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)一:原子力顯微鏡基本原理與操作,典型的應(yīng)用領(lǐng)域?yàn)榻虒W(xué)教育行業(yè),包括:大學(xué)物理演示實(shí)驗(yàn),中學(xué)納米科技創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)。
實(shí)驗(yàn)二:原子力顯微鏡形貌成像及分析,典型實(shí)驗(yàn)內(nèi)容包括:軟磁盤或光盤等常規(guī)樣品形貌成像及分析、光柵樣品的形貌成像及關(guān)鍵尺寸測(cè)量、納米臺(tái)階的測(cè)量分析。
實(shí)驗(yàn)三:譜曲線測(cè)量與納米力學(xué)實(shí)驗(yàn),典型實(shí)驗(yàn)內(nèi)容包括:力梯度-距離曲線的測(cè)量分析、液體膜厚度的測(cè)量與分析。
實(shí)驗(yàn)四:掃描隧道顯微鏡(STM),包括形貌成像和隧道譜。(需增配STM模塊)
實(shí)驗(yàn)五:納米加工實(shí)驗(yàn),如圖形化納米刻蝕實(shí)驗(yàn)。(需增配納米加工模塊)
實(shí)驗(yàn)六:與高倍的光學(xué)顯微鏡或光譜儀器的聯(lián)用,如與光學(xué)顯微鏡聯(lián)用可實(shí)現(xiàn)從微米級(jí)到納米級(jí)分辨率的原位觀察。(需增配與光譜儀聯(lián)用模塊)。
儀器整體照片 | 光柵形貌圖(20×20μm) |