MLP-3 日本mitakakohki半導(dǎo)體全周長(zhǎng)三維測(cè)量?jī)x

日本mitakakohki半導(dǎo)體全周長(zhǎng)三維測(cè)量?jī)xMLP-3

非接觸式全的方位輪廓測(cè)量：MLP-3 專(zhuān)門(mén)從事傳統(tǒng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、投影儀和激光顯微鏡無(wú)法實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜測(cè)量。點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦探頭和每個(gè)軸的控制（包括旋轉(zhuǎn)）解決了困擾測(cè)量人員的問(wèn)題。

特征

1.不受表面顏色/反射率影響的高精度測(cè)量

可以直接測(cè)量從表面反射率僅為 0.5% 的鍍膜玻璃到反射率達(dá)到 90% 或更高的鏡面。

2.從各個(gè)方向都可以接近

根據(jù)工件從最佳方向接近，高精度定量測(cè)量截面和三維形狀

3.可觀察測(cè)量點(diǎn)

內(nèi)置攝像頭可以讓您持續(xù)觀察測(cè)量點(diǎn)處的激光光斑和工件表面，從而可以準(zhǔn)確識(shí)別測(cè)量位置并進(jìn)行測(cè)量。

4.MLP-3 可實(shí)現(xiàn)全周長(zhǎng)測(cè)量

通過(guò)將完的全非接觸式自動(dòng)對(duì)焦探頭與高精度 5 軸平臺(tái)相結(jié)合，可以測(cè)量任何工件圓周上的亞微米形狀。

日本mitakakohki半導(dǎo)體全周長(zhǎng)三維測(cè)量?jī)xMLP-3

非接觸式全的方位輪廓測(cè)量：MLP-3 專(zhuān)門(mén)從事傳統(tǒng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、投影儀和激光顯微鏡無(wú)法實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜測(cè)量。點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦探頭和每個(gè)軸的控制（包括旋轉(zhuǎn)）解決了困擾測(cè)量人員的問(wèn)題。

特征

1.不受表面顏色/反射率影響的高精度測(cè)量

可以直接測(cè)量從表面反射率僅為 0.5% 的鍍膜玻璃到反射率達(dá)到 90% 或更高的鏡面。

2.從各個(gè)方向都可以接近

根據(jù)工件從最佳方向接近，高精度定量測(cè)量截面和三維形狀

3.可觀察測(cè)量點(diǎn)

內(nèi)置攝像頭可以讓您持續(xù)觀察測(cè)量點(diǎn)處的激光光斑和工件表面，從而可以準(zhǔn)確識(shí)別測(cè)量位置并進(jìn)行測(cè)量。

4.MLP-3 可實(shí)現(xiàn)全周長(zhǎng)測(cè)量

通過(guò)將完的全非接觸式自動(dòng)對(duì)焦探頭與高精度 5 軸平臺(tái)相結(jié)合，可以測(cè)量任何工件圓周上的亞微米形狀。