napson/EC-80P(便攜式) 手持式電阻率、方電阻無損測量儀(渦流法)
產(chǎn)品特點及功能
只需觸摸手持式探頭即可測量電阻
在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換
通過 JOG 旋鈕進行簡單的測量條件設置
可更換連接器連接的電阻測量探頭以支持寬范圍的電阻(電阻探頭:最多可使用 2 + PN 確定探頭)
測量對象
半導體及太陽能電池材料(硅、多晶硅、SiC等)
新材料/功能材料(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)
導電薄膜相關(guān)(金屬、ITO等)
化合物半導體相關(guān)(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)
其他(*請聯(lián)系我們)
目標尺寸
無論樣品的大小和形狀如何,都可以進行測量(但是,直徑大于 20 mm 且平坦表面暴露的樣品)
測量范圍
[電阻率] 1m 至 200Ω cm
(*所有探頭類型的總范圍/厚度為 500um 時)
[表面電阻] 10m 至 3kΩ/sq
(*所有探頭類型的總范圍)
產(chǎn)品尺寸
機身:W255×D275×H95mm,4kg
探頭部分:20mmΦ×80mm
相關(guān)產(chǎn)品
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