工業(yè)顯微鏡,超聲波探傷儀,超聲波測厚儀,渦流探傷儀,相控陣探傷儀,工業(yè)內(nèi)窺鏡,雙折射應(yīng)力儀,三坐標(biāo),工業(yè)鏡頭,顯微鏡物鏡,非接觸3D測量儀,激光共聚焦顯微鏡,納米壓痕儀,顯微鏡下微取樣系統(tǒng),無掩膜曝光系統(tǒng)。
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工 |
72DL PLUS 超聲測厚儀
高速度、高效率、高精度
厚度測量達(dá)到實驗室質(zhì)量水平,
堅固耐用適用于生產(chǎn)車間
奧林巴斯超聲測厚儀 72DL PLUS小巧便攜、易于使用,可以提供精確的厚度測量值。該測厚儀具備快速掃查、高級算法和奧林巴斯迄今為止測量至低的最小厚度的能力,可使您充滿信心地測量超薄層的厚度,完成具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用。
奧林巴斯超聲測厚儀 72DL PLUS提供標(biāo)準(zhǔn)頻率和高頻率兩種型號。高頻率型號可以測量超薄材料,包括多層漆料、塑料、金屬和涂 層,其多層測量軟件可以同時顯示最多六個獨立層的厚度。所有72DL PLUS型號都具有快速、準(zhǔn)確測量厚度的功能。
• 數(shù)字濾波器可實現(xiàn)出色的信噪比,以準(zhǔn)確地測量噪聲材料(如玻璃纖維)
• 高分辨率觸摸屏易于使用,可從不同視角觀看
• PC Interface Application(PC機(jī)接口應(yīng)用程序)集成了您的工作流程、檢測管理、報警和數(shù)據(jù)分析
與探頭配套使用,完成廣泛的應(yīng)用
• 可與頻率高達(dá)125 MHz的奧林巴斯單晶超聲探頭相兼容
• 標(biāo)準(zhǔn)頻率型號的測厚儀可與頻率范圍在0.2–30 MHz的探頭配套使用,高速測量材料厚度,并快速提供測量結(jié)果
• 高頻率型號的測厚儀可與頻率范圍在20–125 MHz的探頭配套使用,測量超薄和多層材料
可測量多達(dá)6層的多層漆料、塑料和其他材料
多層測量軟件提供多達(dá)6層的多層厚度測量功能。每層的測量設(shè)置,包括材料、聲速、目標(biāo)厚度范圍和報警閾值,都可以通過配置工作流程和觸摸屏控制輕松訪問。
借助多樣化測量布局,跟蹤和顯示厚度變化
A掃描 B掃描 A/B掃描
趨勢圖 放大圖
所有型號的72DL PLUS測厚儀都包括5種測量布局,因此可以準(zhǔn)確地跟蹤和顯示被測材料的厚度變化。
完成許多應(yīng)用中的厚度測量
72DL PLUS測厚儀性能可靠,可進(jìn)行高質(zhì)量的測量,滿足不同行業(yè)中的各種應(yīng)用,其中包括:
自動檢測漆層厚度
充滿信心地對最多6層材料進(jìn)行測量,檢測屏幕上顯示單個層的測量值
醫(yī)用管子
對非常薄的材料進(jìn)行精確的厚度測量,提高了質(zhì)量控制水平
渦輪葉片
對具有復(fù)雜幾何形狀的材料進(jìn)行更快的掃查和可重復(fù)的測量
復(fù)合材料上的漆層
在測量復(fù)合材料上的多層涂漆時,表現(xiàn)出很高的測量準(zhǔn)確性和可重復(fù)性
選擇能滿足您需要的型號
根據(jù)您的應(yīng)用,您可以選擇標(biāo)準(zhǔn)頻率型號、高頻率型號和多層測量軟件選項。
標(biāo)準(zhǔn)頻率型號:使用頻率范圍在0.2到30 MHz的單晶探頭高速進(jìn)行可靠的厚度測量
(2 kHz測量速度,A掃描的60 Hz顯示刷新率)
高頻率型號:包含標(biāo)準(zhǔn)頻率型號的所有功能,此外,在測量超薄材料時,可支持高達(dá)125 MHz的探頭頻率。
多層測量軟件:同時顯示最多6層測量值